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吴元元

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：沈阳材料科学国家联合实验室更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇CR
  • 1篇层错

机构

  • 1篇沈阳材料科学...

作者

  • 1篇朱银莲
  • 1篇叶恒强
  • 1篇吴元元

传媒

  • 1篇电子显微学报

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
Cr_2Ta中层错的Z衬度像研究被引量：1
2007年
本文利用高角环形暗场成像技术获得六角Cr2Ta Laves相的重原子分辨的原子序数(Z)衬度像,阐述了在相近分辨率情况下Z衬度成像技术与普通高分辨像相比具有一定优势。从所得到Cr2Ta的层错的Z衬度像,直观地解释了层错的原子排列构型,为理解复杂结构中缺陷的原子构型提供了资料。
吴元元朱银莲叶恒强
关键词：层错
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