张俊
- 作品数：17 被引量：11H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第二十六研究所更多>>
- 相关领域：电子电信兵器科学与技术理学一般工业技术更多>>
- X454声表面波滤波器可靠性评估方法被引量：6
- 2014年
- 结合X454声表面波滤波器结构与功能分析确定的失效分布类型与失效率模型,通过引入环境因子与继承因子对X454及其相似产品全寿命过程中环境试验数据、可靠性试验数据(环境应力筛选试验数据、高温加电寿命试验数据以及室温贮存试验数据等)以及外场联试数据进行收集、转化与融合,研究经典可靠性评估理论应用于多融合试验数据的声表面波器件寿命与可靠度评估的工程化方法。
- 刘良芳张俊刘晓琴李海谭思亮
- 关键词：环境因子数据融合
- 声表面波器件光刻工艺技术要求
- 本标准规定了声表面波器件光刻工艺的人员、环境、安全、材料、设备和仪器等一般要求，以及声表而波器件光刻工艺的典型工艺流程、各工序技术、检验等详细要求。本标准适用军用于声表面波器件光刻工艺中的湿法腐蚀方法、干法刻蚀方法、剥离...
- 冷俊林吴琳张俊米佳陶毅冉龙明李洪平张龙刘洋曾武
- 声表面波器件封帽工艺技术要求
- 本标准规定了声表而波器件封帽工艺的人员、环境、安全、材料、设备和仪器等一般要求，以及声表面波器件封帽工艺的典型工艺流程、各工序技术、检验等详细要求。本标准适用于军用声表而波器件平行缝焊和储能焊工艺。
- 米佳罗毅文吴琳张俊汪红兵刘洋李洪平冷俊林陶毅
- 掺铈无机氧化物闪烁晶体规范
- 本规范适用于Ce:LYSO、Ce:LSO、Ce:YSO、CeLuYAP和Ce:GAGG等掺铈无机氧化物闪烁晶体（以下简称晶体）。
- 王佳胡吉海岑伟张俊罗夏林唐光庆李德辉夏卫东
- 声表面波器件划片工艺技术要求
- 本标准规定了声表面波器件划片工艺的人员、环境、安全、材料、设各和仪器等一舟mR要求，以及声表面波器件划片工艺的典型_L艺流程、各工序技术、检验等详细要求。本标准适用于军用声表面波器件砂轮划片工艺。
- 主要 陶毅 吴琳张俊冷俊林李洪平 唐光庆米佳刘良芳 刘洋
- 掺铈硅酸盐闪烁晶体设计指南
- 本指导性技术文件规定了掺饰硅酸忆噜(Ce:LYSO )、掺饰硅酸噜C Ce:LSO )、掺饰硅酸忆(Ce:YSO )等掺饰硅酸盐闪烁晶体原生晶棒和晶体产品(包括晶片、晶块形式的产品)设计流程与依据、设计内容、设计验证、设...
- 王佳胡吉海岑伟张俊石自彬汪庆欧阳廷丁雨憧杨梅胡少勤张小梅黄绪正
- 薄膜体声波滤波器加速寿命评估技术研究被引量：1
- 2019年
- 目的研究薄膜体声波滤波器的加速寿命评估技术,针对XXX1001型薄膜体声波滤波器进行可靠性寿命评估。方法根据薄膜体声波滤波器设计、结构特点,针对XXX1001型薄膜体声波滤波器典型应用环境条件下的失效模式和失效机理分析,采用环境影响分析明确寿命表征指标和相应敏感应力,以此确定合适的加速寿命方法和加速模型。结合可靠性摸底试验确定的敏感应力极限和加速模型要求,设计加速寿命试验方案,利用阿伦尼斯模型对寿命表征指标等试验数据进行评估,得到该型薄膜体声波滤波器的可靠性寿命参数。结果确定了滤波器的寿命表征指标(插入损耗)和敏感应力(温度),设计了加速寿命试验方案,试验实施后,根据试验数据评估出XXX1001型薄膜体声波滤波器在40℃工作时的平均寿命为117 803h。结论该技术程序较为简单、实施方便、样本少、成本低,可为类似滤波器的可靠性评估提供参考。其评估结果也可为XXX1001型薄膜体声波滤波器的设计改进和应用推广提供技术支撑。
- 张俊杜波徐园园刘洋宏曾小珊
- 关键词：可靠性评估
- 有质量评定的声表面波(SAW)和体声波(BAW)双工器 第2部分:使用指南
- 本文件适用于双工器。双工器的作用是分离接收信号和发射信号，是双路无线通信中的关键元件。双工器通常用于CDMA制式的移动通信系统，如第二代移动通信系统（2G）中的窄带码分多址（N-CD-MA）、第三代移动通信系统（3G）中...
- 李勇张俊郑升灵薛超
- 有质量评定的声表面波滤波器 第1部分:总规范
- 本文件规定了用于能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的声表面波滤波器的试验方法和通用性要求。
- 张俊陈晓阳胡元云黄辉薛超
- 声表面波器件镀膜工艺技术要求
- 本标准规定了声表面波器件镀金属膜工艺的人员、环境、安全、材料、设备和仪器等一般要求，以及声表面波器件镀金属膜」_艺的典型工艺流程、各土序技术、检验等详细要求。本标准适用于军用声表面波器件的电子束蒸发和磁控溅射镀金属膜工艺...
- 李洪平吴琳张俊陈彦光刘洋刘晓莉许东辉陶毅米佳冷俊林
