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张帆

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：中国航天北京微电子技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇自测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇故障检测
  • 1篇FPGA
  • 1篇JTAG

机构

  • 1篇西北工业大学
  • 1篇中国航天北京...

作者

  • 1篇郭德春
  • 1篇陈雷
  • 1篇杨金孝
  • 1篇张帆
  • 1篇周涛

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种基于JTAG的CLB内建自测试方法被引量：1
2011年
针对Virtex-4型FPGA中可编程逻辑块故障检测的需求,提出了一种基于JTAG的内建自测试方法,并基于DEV++平台自行开发了基于并口的专用边界扫描测试软件.该方法可以比较可靠的检测FPGA中存在故障的可编程逻辑块,并能比较高的分辨率实现故障的定位.与传统的单故障检测方法相比,提出的改进型测试方法可以检测和定位多个故障CLB,并可以对故障类型进行诊断.实验结果表明:提出的测试方法可以精确的检测和定位存在故障的多个CLB,对具有类似结构的SRAM型FPGA具有普遍适用性.
郭德春杨金孝陈雷周涛张帆
关键词：JTAG内建自测试FPGA故障检测
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共1页<1>
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