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李振

作品数:3 被引量:17H指数:2
供职机构:中国民航大学安全科学与工程学院更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金中国民航大学科研启动基金更多>>
相关领域:电子电信环境科学与工程航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇环境科学与工...

主题

  • 2篇单粒子
  • 2篇单粒子翻转
  • 2篇SEU
  • 1篇电子器件
  • 1篇时钟
  • 1篇民航
  • 1篇民航安检
  • 1篇机载
  • 1篇航空环境
  • 1篇仿真
  • 1篇仿真测试
  • 1篇安保
  • 1篇安检
  • 1篇安全工程
  • 1篇SRAM
  • 1篇ANP
  • 1篇ANP模型
  • 1篇C-
  • 1篇MARCH

机构

  • 3篇中国民航大学

作者

  • 3篇李振
  • 2篇王鹏
  • 2篇薛茜男
  • 1篇田毅
  • 1篇马越
  • 1篇王燕青
  • 1篇邵伟

传媒

  • 1篇电子与信息学...
  • 1篇电子器件
  • 1篇安全与环境学...

年份

  • 3篇2014
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统被引量:2
2014年
为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统:故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台,执行数据的采集、存储及结果分析任务,板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量,通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据,根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程,并且具有较好的可扩展性。
王鹏李振邵伟薛茜男
关键词:仿真测试单粒子翻转MARCHSRAM
面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法被引量:5
2014年
随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用,单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先,针对由于单粒子翻转故障的随机性,该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制,构建了SEU故障注入测试系统。然后模拟真实情况下单粒子效应引发的多时间点故障,研究了单粒子效应对基于FPGA构成的时序电路的影响,并在线统计了被测模块的失效数据和失效率。实验结果表明,对于基于FPGA构建容错电路,采用多时钟沿三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)加固技术可比传统TMR技术提高约1.86倍的抗SEU性能;该多时钟SEU故障注入测试系统可以快速、准确、低成本地实现单粒子翻转故障测试,从而验证了SEU加固技术的有效性。
薛茜男李振姜承翔王鹏田毅
基于模糊-ANP的民航安检人员作业可靠性风险评估被引量:10
2014年
为探讨影响民航安检人员作业可靠性的影响因素及其之间的关系,提高安检人员的作业可靠性,运用三角模糊数学和网络分析法,建立了基于模糊-ANP的安检人员作业可靠性风险评估模型;通过计算评价指标权重,得到影响作业可靠性的关键指标为管理制度、员工培训次数和人员作业负荷等。在工作中应重点关注这些因素并加以管理,为安检提出有效的培训方案。
王燕青马越李振
关键词:安全工程
共1页<1>
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