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蔡畅

作品数:15 被引量:8H指数:1
供职机构:中国科学院近代物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金广东省教育部产学研结合项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术石油与天然气工程核科学技术环境科学与工程更多>>

文献类型

  • 11篇专利
  • 4篇期刊文章

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇石油与天然气...
  • 1篇电子电信
  • 1篇环境科学与工...
  • 1篇核科学技术
  • 1篇理学

主题

  • 5篇重离子
  • 5篇重离子辐照
  • 5篇离子辐照
  • 3篇单粒子
  • 3篇单粒子效应
  • 3篇回读
  • 2篇单粒子翻转
  • 2篇电子器件
  • 2篇电子学
  • 2篇多通道
  • 2篇多通道数据
  • 2篇掩模
  • 2篇硬件
  • 2篇硬件加速
  • 2篇有效信息
  • 2篇原码
  • 2篇甄别
  • 2篇时间戳
  • 2篇试验箱
  • 2篇数据寄存器

机构

  • 15篇中国科学院近...
  • 2篇中国科学院大...
  • 2篇广州中国科学...
  • 1篇福州大学
  • 1篇中国科学院
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国航天北京...
  • 1篇青岛中科华联...

作者

  • 15篇蔡畅
  • 10篇刘杰
  • 7篇陈金达
  • 7篇孔洁
  • 6篇刘天奇
  • 6篇苏弘
  • 6篇牛晓阳
  • 4篇刘建德
  • 4篇杨海波
  • 3篇孙友梅
  • 2篇曹殿亮
  • 2篇杜成名
  • 2篇张秀玲
  • 1篇董声雄
  • 1篇莫丹
  • 1篇叶兵
  • 1篇苗晶

传媒

  • 1篇现代化工
  • 1篇核技术
  • 1篇微电子学
  • 1篇原子核物理评...

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2022
  • 3篇2021
  • 5篇2020
  • 3篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2016
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
22nm FD-SOI 静态随机存储器的可靠性研究
2021年
针对22 nm FD-SOI CMOS工艺静态随机存储器(SRAM),研究了工艺角、工作电压、测试温度、总剂量效应对器件性能的影响。通过自动测试设备(ATE),有效地提取了FD-SOI存储器在多种测试环境下的电学性能参数。测试结果表明,不同的工艺角对输出电平和工作状态的影响较小。随着电压的增加,静态电流随之增加,最大工作频率呈现出波动性的变化。器件在-55℃~125℃范围内性能稳定。高频特性在25℃表现最好,低压特性在高温下最优。总剂量累积到3 kGy(Si)时,器件功能仍正常,内核电流与I/O电流均明显增大。FD-SOI SRAM自身优点多,工作稳定性较好,具有极好的应用前景。
贺泽蔡畅赵凯赵培雄李东青刘天奇刘天奇
关键词:静态随机存储器可靠性
一种重离子束流均匀度测试系统和方法
本发明涉及一种重离子束流均匀度测试系统和方法,该系统包括SRAM测试芯片、单粒子效应测试系统以及重离子辐照终端;SRAM测试芯片作为研究重离子束对器件造成的单粒子翻转效应的载体,设置在单粒子效应测试系统中;重离子辐照终端...
蔡畅贺泽柯凌云刘杰赵培雄刘建德李立轩牛晓阳
一种多通道数据实时排序方法及系统
本发明一种多通道数据实时排序方法及系统,该方法包括步骤:S1、多探测器电子学信号输出时,设计令牌环对多探测器电子学部分读出的探测器事件的数据包进行多通道转一通道的变换,并存储到数据寄存器内;S2、提取数据寄存器中各事件的...
孔洁柯凌云颜俊伟蔡畅陈金达杨海波牛晓阳苏弘
文献传递
壳聚糖及其季铵盐强化超滤去除Cr(Ⅵ)离子的研究
2016年
分别以壳聚糖和壳聚糖季铵盐强化超滤去除Cr(Ⅵ),研究了料液p H、操作压力、转载比以及壳聚糖季铵盐接枝率等对截留率和通量的影响。结果表明,料液p H和装载比是影响Cr(Ⅵ)截留率的主要因素。相同的操作条件下,采用壳聚糖季铵盐强化超滤效果更优。超滤膜表面形成的亲水性凝胶层影响其通量和截留性能,由于较好的亲水性,壳聚糖季铵盐强化超滤可获得较高通量。对Cr(Ⅵ)的截留率随季铵基团在壳聚糖上接枝率的增大而升高:当接枝率由109%提高至530%,对Cr(Ⅵ)的截留率由65.2%提高至75.5%。
苗晶杜启通蔡畅董声雄
关键词:壳聚糖壳聚糖季铵盐
一种FPGA内部资源甄别与定位方法及系统
本发明涉及一种FPGA内部资源甄别与定位方法及系统,其特征在于,包括以下内容:1)对需处理的资源进行开发配置生成配置位流,并将配置位流下载到待测FPGA芯片中;2)获得需处理资源的初始回读文件;3)生成需处理资源新状态的...
柯凌云蔡畅刘杰孔洁刘天奇陈金达赵培雄苏弘
文献传递
一种用于电子器件重离子辐照的空气高温试验箱
本发明涉及一种用于电子器件重离子辐照的空气高温试验箱,包括:试验箱本体,所述试验箱本体包括前壁面,所述前壁面上设置有凹槽,所述凹槽内设置有入射孔以及覆盖在所述入射孔上的薄膜作为入射窗,所述薄膜的厚度范围为5‑100μm,...
刘天奇刘杰孙友梅蔡畅刘建德曹殿亮
一种用于FPGA比较器的全二进制数据高速比较方法及系统
本发明涉及一种用于FPGA比较器的全二进制数据高速比较方法及系统,其特征在于,包括以下内容:1)对输入的任意两个二进制数据进行一致性处理;2)判断一致性处理后两数据的符号;3)获取符号位相同的一致性处理后两数据的原码及其...
孔洁柯凌云颜俊伟杨海波蔡畅牛晓阳陈金达张秀玲杜成名苏弘
文献传递
一种重离子束流均匀度测试系统和方法
本发明涉及一种重离子束流均匀度测试系统和方法,该系统包括SRAM测试芯片、单粒子效应测试系统以及重离子辐照终端;SRAM测试芯片作为研究重离子束对器件造成的单粒子翻转效应的载体,设置在单粒子效应测试系统中;重离子辐照终端...
蔡畅贺泽柯凌云刘杰赵培雄刘建德李立轩牛晓阳
文献传递
重离子辐照引起磁性隧道结功能失效类型及机理研究
2021年
重点研究了磁性隧道结(MTJ)的电学性能受离子注量影响的物理规律。实验首次发现了高能Ta离子辐射损伤导致MTJ电学功能失效的现象,主要失效模式为:高、低电阻态失效,其中79.9%的功能失效为高电阻态失效。计算表明,单个10.9 MeV/u的Ta离子辐照引入的损伤无法导致MTJ宏观电学功能失效。结合理论计算与Monte Carlo模拟分析,MTJ中的绝缘势垒层与铁磁薄膜的损伤是出现高、低电阻态失效的内因。
赵培雄刘杰刘天奇蔡畅姬庆刚李东青贺泽孙友梅孙友梅
关键词:磁隧道结
一种多通道数据实时排序方法及系统
本发明一种多通道数据实时排序方法及系统,该方法包括步骤:S1、多探测器电子学信号输出时,设计令牌环对多探测器电子学部分读出的探测器事件的数据包进行多通道转一通道的变换,并存储到数据寄存器内;S2、提取数据寄存器中各事件的...
孔洁柯凌云颜俊伟蔡畅陈金达杨海波牛晓阳苏弘
文献传递
共2页<12>
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