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韩露

作品数:3 被引量:18H指数:1
供职机构:重庆邮电大学更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇MEDICI
  • 1篇噪声因子
  • 1篇栅绝缘层
  • 1篇模拟软件
  • 1篇绝缘层
  • 1篇击穿
  • 1篇击穿特性
  • 1篇PN结
  • 1篇EMCCD
  • 1篇MOSFET

机构

  • 3篇重庆邮电大学
  • 3篇重庆光电技术...

作者

  • 3篇熊平
  • 3篇韩露
  • 1篇白雪平

传媒

  • 1篇传感器世界
  • 1篇数字通信
  • 1篇河北软件职业...

年份

  • 1篇2010
  • 2篇2009
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
MOS二极管热弛豫时间的二维数值模拟
2009年
本文对二维半导体器件模拟软件MEDICI进行了简单介绍,运用MEDICI对MOS二极管进行瞬态分析,观察不同时刻载流子浓度和耗尽层宽度的变化,并讨论了热弛豫时间与器件衬底浓度的关系。
韩露熊平
关键词:MEDICI
EMCCD工作原理及性能分析被引量:18
2009年
介绍了电子倍增电荷耦合器件(EMCCD)的结构和工作过程,分析了影响倍增增益的因素,同时对噪声因子进行介绍。通过与其他CCD进行比较,EMCCD有优越的信噪比和量子效率。
韩露熊平
关键词:噪声因子
MOSFET击穿特性的二维数值模拟
2010年
0引言 MOSET中产生击穿的机构有漏源击穿和栅绝缘层击穿。其中漏源击穿电压是由漏一衬底的PN结雪崩击穿电压与穿通电压两者中的较小者决定的。本文对漏源击穿运用MEDICI二维器件模拟软件进行分析。
韩露熊平白雪平
关键词:击穿特性MOSFETMEDICI栅绝缘层模拟软件PN结
共1页<1>
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