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陈宇亮

作品数：1 被引量：9H指数：1
供职机构：北京邮电大学软件学院更多>>
发文基金：国家重大科学仪器设备开发专项更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇射线
  • 1篇数字成像
  • 1篇透照
  • 1篇透照厚度
  • 1篇图像
  • 1篇图像灰度
  • 1篇图像灰度值
  • 1篇灰度
  • 1篇灰度值
  • 1篇厚度
  • 1篇X射线

机构

  • 1篇北京邮电大学

作者

  • 1篇陈宇亮
  • 1篇郭文明

传媒

  • 1篇无损检测

年份

  • 1篇2016
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线图像灰度值与透照厚度的定量关系被引量：9
2016年
X射线数字成像检测技术中,射线图像对于沿透照方向的厚度变化,表现为灰度值的变化,如何由灰度值的变化得到被检物体实际厚度的变化成为业内研究的重点。基于Beer定理,结合影响X射线机射线强度的因素和射线强度与数字图像的转换关系,推导出灰度值与透照厚度之间的定量关系;通过搭建试验平台,得到系列数据,对理论计算值和试验数据测量值进行了比对验证。结果表明:理论灰度值与实际测试相差误差不超过灰度满量程的±10%。
郭文明陈宇亮
关键词：X射线数字成像灰度值
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共1页<1>
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