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高润

作品数:5 被引量:20H指数:3
供职机构:北京信息科技大学更多>>
发文基金:北京市自然科学基金北京市优秀人才培养资助北京市教委科技计划面上项目更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 5篇激光
  • 4篇激光干扰
  • 4篇光干扰
  • 3篇CCD
  • 2篇探测器
  • 2篇仿真
  • 1篇有限元
  • 1篇有限元法
  • 1篇噪声
  • 1篇数据拟合
  • 1篇数值仿真
  • 1篇损伤阈值
  • 1篇判别法
  • 1篇热辐射
  • 1篇面阵
  • 1篇激光损伤
  • 1篇光电
  • 1篇光电探测
  • 1篇光电探测器
  • 1篇红外

机构

  • 5篇北京信息科技...

作者

  • 5篇牛春晖
  • 5篇李晓英
  • 5篇高润
  • 3篇吕勇
  • 2篇孟浩
  • 1篇刘力双
  • 1篇郎晓萍

传媒

  • 2篇激光杂志
  • 2篇激光与红外
  • 1篇红外技术

年份

  • 5篇2016
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
光电探测器激光损伤判别法与发展现状被引量:3
2016年
在现代高技术战争中,以探测器为核心的光电设备极易受到激光的辐照干扰,严重的情况下则导致探测器内部结构损坏以及材料的永久性损伤致使探测器功能性损坏。所以激光对探测器的硬损伤一直都是研究的热点课题,而探测器的损伤判别方法和损伤阈值的确定则是深入研究损伤机理的关键。近几年来,激光对探测器的损伤判别法在不断改进,也出现了新的判别方法,这使得判别结果的准确性和可靠性都得到了提高。本文主要对强激光损伤探测器的判别方法重新进行了总结,介绍了各判别方法的作用机理及发展趋势,为探测器损伤机理的研究打下了良好基础,同时也为探测器的防护以及激光对探测器的故意损坏提供了理论依据和研究方法。
高润牛春晖李晓英吕勇
关键词:激光损伤损伤阈值光电探测器
632nm激光对CCD干扰效果仿真与实验研究被引量:4
2016年
为解释激光对CCD探测器的干扰机理,建立了激光辐照CCD探测器的有限元仿真模型。利用波长为632 nm的激光对CCD探测器进行干扰实验,通过图像处理的方法得到了光功率与饱和干扰面积的关系曲线。建立"水桶"模型以及利用半导体PN结电子、空穴扩散理论建立有限元仿真模型,将这两个模型分别进行激光对CCD探测器干扰效果的仿真计算,得到不同光功率下的饱和干扰面积,并与实验结果对比,结果表明:"水桶"模型并未能较好地解释实验现象,而有限元模型的仿真结果与实验结果更加接近。故可利用有限元仿真模型来预测实际激光对CCD探测器的干扰效果。
高润牛春晖李晓英吕勇孟浩
关键词:探测器激光干扰有限元法仿真
面阵Si-基CCD串音干扰实验研究被引量:3
2016年
电荷耦合器件(CCD)受强激光照射时,会出现干扰、饱和及串音现象。在现代光电对抗中,正是利用这些特性对CCD造成软损伤,进而对目标起到防护的作用。主要针对632.8nm激光辐照面阵Si基CCD时产生的饱和、干扰及串音现象进行了相关研究。搭建了实验系统,获取了实验数据;在对实验数据作深入分析和研究的基础上,总结了串音区域和干扰区域面积与辐照激光功率之间的关系,根据此关系拟合计算出了干扰阈值为0.57W/cm^2和串音阈值为8.26W/cm^2;最后将拟合出的CCD参数与实际CCD的参数作了比较,误差为2%。拟合结果证明本文所提出的干扰模型是合理的,能够很好地用于面阵CCD实际干扰效果评估和预测。
李晓英牛春晖郎晓萍高润孟浩
关键词:数据拟合激光干扰
632nm激光对CCD和CMOS的干扰实验及机理分析被引量:11
2016年
为了研究激光对图像传感器的干扰机理,利用632nm激光开展了对CCD和CMOS两种图像传感器的干扰实验,将实验采集的数字图像进行处理,提取了不同激光功率下,图像横纵向最大干扰宽度,并从CCD和CMOS内部结构上解释了产生干扰差异的原因。之后利用激光光强关系式推导出最大干扰宽度与激光辐照光功率之间的关系,并根据此关系拟合了CCD横向和CMOS横纵向最大干扰宽度曲线,拟合结果与实验数据吻合较好,说明了CCD横向和CMOS横纵向受干扰的主要原因是由光强本身引起的高斯光束整体抬升。对于CCD纵向串扰过程,通过实验可以得出CCD串扰过程分为两个阶段:开始阶段可能是由电子隧穿引起的,后期主要是载流子的饱和扩散。
高润牛春晖李晓英
关键词:激光干扰CCD传感器CMOS传感器
带外激光干扰的仿真研究被引量:1
2016年
红外激光干扰就是向红外成像系统发射激光束,对系统中的光电探测器进行直接的干扰和影响。实际上,将高功率的带外强激光束照射红外光学系统时,系统中某些敏感元件会产生明显温升,随之向外发出红外干扰辐射。选用1.06μm和2.5μm两个波长的带外光,照射施密特-卡塞格林式中波红外成像系统,利用光路追迹和有限元法对以上物理过程进行了完整的数值仿真计算和分析研究。研究结果显示:系统中反射镜温升明显,温升程度与入射光波长和入射光功率密度有关系;温升到一定数值时向外发出的带内红外辐射,将随同工作波长通过系统到达像面,均匀的散布在整个像面,成为一种强烈背景噪声,对像质造成了很大的干扰,从而降低了系统的探测能力。
李晓英牛春晖刘力双吕勇高润
关键词:热辐射背景噪声数值仿真
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