谢刚
- 作品数：6 被引量：14H指数：3
- 供职机构：昆明物理研究所更多>>
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- 热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命被引量：3
- 2019年
- 高可靠性长寿命碲镉汞焦平面阵列像元性能参数慢慢变差退化失效,确定它的储存寿命要用B类试验缩短试验时间。有效加速寿命试验ALT或加速退化试验ADT的恒定热应力,应大于高温+90℃、2 160 h。定量加速试验前,应进行高加速应力筛选试验HASS迫使缺陷发展,以暴露可能存在的早期故障。根据碲镉汞红外焦平面探测器杜瓦组件高温储存试验性能退化测试数据,用统计模型对在恒定高温应力水平下获得的失效时间或退化特征性能参数进行转换,得到在+25℃额定应力水平下的储存寿命大于50年。超过3 000 h高温储存试验结果表明,残余工艺应力释放导致试验前1 500 h像元性能有向好的趋势,在高温+80℃的真空环境下烘烤20天不会造成明显的像元性能恶化。
- 李建林张绍裕孙娟谢刚周嘉鼎马颖婷
- 关键词：红外探测器碲镉汞加速退化试验
- 铁电焦平面红外探测器检测用低频外同步斩波器
- 一种铁电焦平面红外探测器检测用低频外同步斩波器，应用锁相技术的跟踪性能，可实现跟踪检测低频信号的目的；本实用新型由黑体、斩波器、红外焦平面探测器、锁相环电路、驱动电路、同步检测电路和示波器组成，黑体和红外焦平面探测器分别...
- 舒畅金惠松李琳戴诺张甲谢刚
- 文献传递
- 红外焦平面探测器暗电流计算被引量：4
- 2016年
- 红外焦平面探测器的暗电流一般是在零视场(即盲冷屏)条件下进行测试,但这种测试方法必须改变组件结构,只适用于实验室测试。介绍了一种不需要改变组件结构,仅通过基本的性能测试就可以从理论上分析计算得到红外焦平面器件暗电流的方法。对320×256长波探测器组件的试验结果表明,用该方法得到的暗电流结果与用盲冷屏得到的暗电流结果非常接近,可作为红外焦平面探测器暗电流评估的快捷方法。
- 毛京湘舒畅王晓娟谢刚黄俊博周嘉鼎
- 关键词：红外探测器焦平面暗电流
- 数字化红外焦平面探测器光谱响应测试系统研究被引量：2
- 2017年
- 随着数字化红外焦平面探测器的发展,为满足红外数字化红外焦平面探测器光谱响应测试的需求,利用传统的单色分光仪原理,借助Lab VIEW开发软件,采用Cameralink总线图像数据传输方案,研制了数字化红外焦平面探测器光谱响应曲线的测试系统。研究结果表明,本系统具有结构简单、抗干扰能力强、测试准确可靠的优点,解决了传统光谱测试设备不能对数字化红外焦平面探测器进行测试的问题。
- 姬玉龙毛京湘李雯霞杨鹏伟黄俊博舒畅李红福谢刚
- 关键词：光谱响应单色仪LABVIEW
- 液相外延碲镉汞表面化学腐蚀研究被引量：4
- 2015年
- 应用不同浓度的溴甲醇溶液对液相外延碲镉汞表面进行化学腐蚀,并且测量了腐蚀速率。然后通过原子力显微镜及X射线光电子能谱分析了碲镉汞材料的表面状态。发现经过溴甲醇溶液腐蚀后,碲镉汞表面富碲现象较为严重而且表面粗糙度略有增加。
- 周连军王静宇田丽萍任华袁绶章李东升舒畅王晓娟谢刚周嘉鼎
- 关键词：碲镉汞化学腐蚀原子力显微镜X射线光电子能谱
- 碲镉汞焦平面阵列无效像元(盲元)特征与成因被引量：2
- 2021年
- 中波或长波红外焦平面阵列有效像元率递减的变化趋势,必然是由制造工艺缺陷、特定的工作应力或环境应力引起的某种机理造成。根据红外探测器输出信号电压的数学模型,通过信号传输分析、性能评价测试数据统计分析,运用统计图形、响应曲线及输出信号电压灰度图等可视化手段,直观地呈现无效像元的类型、数量、位置、分布,以及像元信号电压、噪声电压和响应电压等无效像元特性。统计分析显示,像元中心距15μm的中波320×256探测器杜瓦制冷机组件,在使用过程中平均表观有效像元率相对于初始有效像元率减小1.07个百分点,平均有86.45%的表观无效像元为不稳定的闪元和漂移像元,设计和制造缺陷导致使用无效像元的响应直线呈水平状、响应电压趋于0,热适配引起的应力是造成线状分布使用无效像元簇的原因。提出用不同黑体温度条件下像元信号电压超出平均值±(6%~7.5%)的判别准则筛选识别无效像元的方法。
- 李建林谢刚刘炼陈晓燕董伟雷永畅
- 关键词：红外焦平面阵列盲元可靠性
