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王陶

作品数:9 被引量:4H指数:1
供职机构:中国航空综合技术研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 8篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 4篇可靠性
  • 4篇可靠性分析
  • 2篇电迁移
  • 2篇上位计算机
  • 2篇判据
  • 2篇轴承
  • 2篇轴承磨损
  • 2篇系统故障
  • 2篇系统架构
  • 2篇系统架构设计
  • 2篇系统可靠性
  • 2篇磨损
  • 2篇金属互连
  • 2篇金属互连线
  • 2篇襟翼
  • 2篇晶体管
  • 2篇后缘襟翼
  • 2篇互连
  • 2篇互连线
  • 2篇计算机

机构

  • 9篇中国航空综合...

作者

  • 9篇王陶
  • 7篇曾晨晖
  • 2篇张辉
  • 2篇任占勇
  • 2篇刘春志
  • 2篇薛和平
  • 2篇张华
  • 2篇任超
  • 2篇刘晓东
  • 1篇张辉
  • 1篇李明

传媒

  • 1篇装备环境工程

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 3篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2014
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
基于模型转换的飞机后缘襟翼控制系统的设计方法
本发明提供了一种基于模型转换的飞机后缘襟翼控制系统的设计方法,该设计方法包括:在SysML软件中生成飞机后缘襟翼控制系统的块定义图和内部块图以建立飞机后缘襟翼控制系统SysML模型,在SysML软件中将飞机后缘襟翼控制系...
薛和平王如平周一舟刘晨艳王陶占自涛
文献传递
基于功能仿真的电子产品性能退化分析方法被引量:4
2014年
目的研究基于功能仿真对电子产品长期工作过程中性能退化问题进行分析的方法。方法以DC-DC电源模块为对象,一种方式是直接对电源模块进行加速退化试验,并基于试验数据进行可靠性分析;另一种方式是对电源模块中性能退化关键元器件进行加速退化试验,并将试验数据模型注入到电源模块功能仿真模型中,进行性能退化仿真与可靠性分析,最终对两种分析结果进行对比,验证仿真分析技术的有效性。结果对比显示,加速退化试验分析得到的电源模块平均寿命为281 560 h,仿真分析得到的电源模块平均寿命为357 290 h。结论由于仿真分析方法只考虑了性能退化的关键元器件,结果偏乐观,但是偏差在合理的范围内,证明该方法对于性能退化可靠性分析是有效的,并且应用该方法更便于进行设计改进和迭代分析。
张辉王陶李明曾晨晖
关键词:电子产品加速退化试验
一种止推轴承磨损量测量装置
本实用新型提供一种止推轴承磨损量测量装置,其包括安装板以及刻度盘,所述安装板与刻度盘之间通过支撑杆固定,所述安装板的一侧设置有U形开口,所述安装板的中间设置有用于安装位移传感器的偏心通孔,所述位移传感器的上部设置有用于使...
胡玉彬曾晨晖王如平占自涛王陶
文献传递
基于性能模型进行多状态系统任务可靠性建模的方法
本发明提供一种基于性能模型进行多状态系统任务可靠性建模的方法,其包括以下步骤:S1、收集目标多状态系统设计信息:S2、建立目标多状态系统性能模型;S3、确定目标多状态系统的故障判据;S4、对目标多状态系统的故障模式进行分...
占自涛任占勇曾晨晖王如平王陶胡玉彬刘晓东张小波田启龙
文献传递
一种基于仿真技术的半导体器件电迁移失效测试方法
本发明是以半导体器件电迁移失效物理模型为基础,建立了一种基于仿真技术的半导体器件电迁移失效测试方法。在进行测试时首先需要收集半导体器件的相关信息;其次通过EDA软件SABER平台建立每个晶体管EDA模型及器件晶体管级ED...
张华任超刘春志张辉王陶曾晨晖
文献传递
基于模型转换的飞机后缘襟翼控制系统的设计方法
本发明提供了一种基于模型转换的飞机后缘襟翼控制系统的设计方法,该设计方法包括:在SysML软件中生成飞机后缘襟翼控制系统的块定义图和内部块图以建立飞机后缘襟翼控制系统SysML模型,在SysML软件中将飞机后缘襟翼控制系...
薛和平王如平周一舟刘晨艳王陶占自涛
文献传递
基于性能模型进行多状态系统任务可靠性建模的方法
本发明提供一种基于性能模型进行多状态系统任务可靠性建模的方法,其包括以下步骤:S1、收集目标多状态系统设计信息:S2、建立目标多状态系统性能模型;S3、确定目标多状态系统的故障判据;S4、对目标多状态系统的故障模式进行分...
占自涛任占勇曾晨晖王如平王陶胡玉彬刘晓东张小波田启龙
一种止拉轴承磨损检测装置
本实用新型提供一种止拉轴承磨损检测装置,其包括底座、量具固定板以及固定盘,所述固定盘与所述量具固定板之间设置有第一支撑柱,所述量具固定板与所述底座之间设置有第二支撑柱,所述量具固定板的中部开设有水平槽,量具穿过所述水平槽...
占自涛曾晨晖王如平胡玉彬王陶
文献传递
一种基于仿真技术的半导体器件电迁移失效测试方法
本发明是以半导体器件电迁移失效物理模型为基础,建立了一种基于仿真技术的半导体器件电迁移失效测试方法。在进行测试时首先需要收集半导体器件的相关信息;其次通过EDA软件SABER平台建立每个晶体管EDA模型及器件晶体管级ED...
张华任超刘春志张辉王陶曾晨晖
文献传递
共1页<1>
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