黄亚
- 作品数：18 被引量：18H指数：2
- 供职机构：南京理工大学电子工程与光电技术学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信更多>>
- 应用计算全息片检测柱面镜
- <正>柱面可应用于线成像或线扫描,具有特殊的光学性能,在现代光学系统得到了越来越广泛的应用。为了实现柱面的高精度的面形检验,提出一种应用计算全息片的柱面镜补偿干涉检测方法。CGH应用在在斐索结构干涉光路中,通过附加一定相...
- 黄亚马骏朱日宏
- 文献传递
- 光学自由曲面检测用计算全息元件的设计研究
- 光学自由曲面具有校正光学像差、精简系统结构的作用,但加工和检测难度都很大。基于计算全息元件（Computer Generated Hologram,CGH）的零位干涉测试精度高、调校方便,已成功的应用于非球面光学元件的检...
- 黄亚沈华朱日宏
- 关键词：光学自由曲面计算全息
- 文献传递
- 基于PSD的长距离多阴影照相站的空间坐标一致性标定方法
- 利用多阴影照相站抓拍的系列图像来分析弹丸的运动姿态是目前姿态测量的主要方法，而只有在同一空间坐标系中，将系列图像的特征点与该点对应的空间坐标联系起来，才能得到准确的结果.针对这一问题，利用光学杠杆的原理，结合位置敏感探测...
- 王小锋孟鑫沈华李建欣朱日宏黄亚荣四海崔艳军张英聪朱荣刚
- 关键词：光学工程位置敏感探测器PSD
- 一种通过对长工作距显微物镜改装的干涉显微物镜
- 本发明公开了一种通过对长工作距显微物镜改装的干涉显微物镜装置，包括显微物镜、第一套筒组件和第二套筒组件，第一套筒组件一端通过螺纹固定在显微物镜上，另一端与第二套筒组件连接，通过止螺固定，第一套筒组件与第二套筒组件连接面带...
- 马骏高志山谢佳丽朱日宏黄亚冯海友陈磊王青何勇李建欣沈华
- 文献传递
- 基于PSD的长距离多阴影照相站的空间坐标一致性标定方法被引量：2
- 2013年
- 目前弹丸运动姿态测量的主要方法是对多阴影照相站抓拍的系列图像进行处理分析,而只有当多阴影照相站处在同一空间坐标系中时,才能将系列图像的特征点与该点对应的空间坐标联系起来,从而得到准确的结果。针对这一问题,利用位置敏感探测器(PSD),提出一种长距离多阴影照相站的空间坐标一致性标定方法。分析了该标定方法的测量精度和重复性。搭建了一套系统并开展了相关实验,实验结果表明,该标定方法的位置校准误差小于0.1mm。
- 王小锋沈华李建欣朱日宏黄亚荣四海
- 关键词：光学测量位置敏感探测器
- 光学自由曲面元件的非球面度计算与应用研究
- 光学自由曲面元件作为一种复杂的、不规则的、非旋转对称性的异形曲面已在现代光电领域取得了越来越广泛的应用,如离轴非球面等已广泛应用于国防、航空航天等领域。非球面度是离轴非球面的重要参数,在加工和检验阶段都有着非常重要的应用...
- 黄亚朱日宏马骏沈华荣四海
- 文献传递
- 基于光电位置传感器的发射轨道空间几何坐标一致性校正系统设计被引量：1
- 2012年
- 在现代发射轨道空间弹丸飞行姿态研究中,通过轨道上的多组阴影相机基站瞬态捕捉弹丸姿态图像数据,对图像数据进行处理计算可以获得弹丸的飞行轨迹数据。因此,阴影相机的空间坐标校正对飞行姿态数据的获取以及测量精度有着重要的影响。针对传统悬线型基准系统校正误差大以及因每组相机间独立校正而导致的空间几何坐标校正一致性低的问题,基于光电位置传感器和光学杠杆原理,设计了新型阴影相机空间几何坐标校正系统。阐述了该系统的理论背景、组成以及调校方法,并对该系统进行了实验分析。实验结果表明,采用该系统校正阴影相机俯仰角精度优于10″,单组相机校正实验测量结果误差不超过0.06mm,多组相机校正一致性误差不超过0.1mm。
- 荣四海沈华朱日宏黄亚王小锋卞殷旭
- 关键词：位置敏感探测器
- 一种通过对长工作距显微物镜改装的干涉显微物镜
- 本发明公开了一种通过对长工作距显微物镜改装的干涉显微物镜装置，包括显微物镜、第一套筒组件和第二套筒组件，第一套筒组件一端通过螺纹固定在显微物镜上，另一端与第二套筒组件连接，通过止螺固定，第一套筒组件与第二套筒组件连接面带...
- 马骏高志山谢佳丽朱日宏黄亚冯海友陈磊王青何勇李建欣沈华
- 文献传递
- 晶体材料光吸收系数的测量方法
- 本发明涉及光吸收系数测量领域，特别是一种晶体材料光吸收系数的测量方法；抽运激光照射装置起到了热变透镜效应中激励光的作用，通过高功率的抽运光入射到晶体表面，使其产生热形变；干涉仪发射出一个标准平面波其通过被抽运激光作用的晶...
- 沈华朱日宏李建欣陈磊何勇高志山王青张英聪黄亚
- 文献传递
- 基于零位干涉的共轭差分面形绝对检测技术研究
- 光学零位干涉测试是一种相对测量方法，已经广泛应用在光学元件的高精度检测中。为了消除包括参考面误差在内的系统误差，进一步提升检测精度，绝对检测技术被用于获得待测光学元件的绝对面形。传统的三面互检法等绝对检测方法通常需要对待...
- 黄亚
