刘楠
- 作品数：10 被引量：4H指数：1
- 供职机构：长春理工大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术理学一般工业技术电子电信更多>>
- 天基多平台探测系统效能评估方法、存储介质及电子设备
- 天基多平台探测系统效能评估方法、存储介质及电子设备，涉及天基探测技术领域，可有效对天基平台探测系统进行效能评估，进而优化该系统的顶层设计。所述方法包括：建立递阶层次结构模型：确定目标效能指标，依据各个效能指标间的隶属关系...
- 付强刘楠刘轩玮赵凤李英超姜会林
- Cu薄膜生长初期的计算机模拟被引量：2
- 2013年
- 基于Monte Carlo模型,在理想基底上设置100×100的二维方形格,利用周期性边界条件建立Cu薄膜初期生长模型,并模拟粒子的气相沉积过程及迁移步数对薄膜生长的影响规律.结果表明:当沉积粒子数逐渐增加时,基底表面的粒子团簇结构逐渐增大;在温度不变的条件下,随着最大迁移步数的增加,团簇逐渐增大,团簇数量逐渐减小,且团簇分布逐渐稀疏;温度升高使粒子聚集为岛状,薄膜呈岛状生长.
- 刘楠赵长春孙瑶王新李野端木庆铎
- 关键词：计算机模拟
- NiO薄膜的制备及其光学特性的研究
- NiO是一种用途广泛的半导体材料,通常以绿色粉末状存在,它的分子量为74.70,具有立方晶体结构。在功能材料中,NiO薄膜具备了许多优异的性能,在热敏元件、气敏元件、光探测器等电子元件方面具有良好的应用前景。
N...
- 刘楠
- 关键词：射频磁控溅射光学特性紫外探测器
- 文献传递
- 溅射功率对NiO薄膜性质的影响被引量：1
- 2011年
- 在室温条件下,采用射频磁控溅射的方法在石英衬底上制备了NiO薄膜,深入研究了不同溅射功率对NiO的结构、光学和电学特性的影响。随着溅射功率的升高,NiO薄膜逐渐由非晶态薄膜转变成具有(111)择优取向的晶态薄膜,同时发现NiO薄膜在可见光区透过率较大,而在紫外光区透过率减小;随着溅射功率的升高,薄膜在可见光区域和紫外区域的光学透过率均明显减小,同时禁带宽度也减小,但导电性增强。
- 王新刘楠向嵘李野端木庆铎田景全
- 关键词：射频磁控溅射氧化镍光学电学
- 一种基于偏振分光检测精密光学元件缺陷的装置与方法
- 一种基于偏振分光检测精密光学元件缺陷的装置及方法，属于光学测量技术领域，解决了现有的装置对表面缺陷的检测识别较为困难，且存在大量误差的问题。所述装置包括激光照射装置、被检测样品装置、激光接收装置、图像观察装置、电路控制装...
- 付强刘楠顾宪松罗凯明杨威张月段锦李英超
- 一种基于堆叠偏振片阵列的多光谱偏振成像装置及方法
- 本发明具体涉及一种基于堆叠偏振片阵列的多光谱偏振成像装置及方法，装置包括：控制系统、显示系统、图像传感器系统和存储系统，控制系统与显示系统、图像传感器系统及存储系统相连接，显示系统还与存储系统相连接；图像传感器系统还与存...
- 付强杨威刘嘉楠谭勇罗凯明刘楠张肃战俊彤李英超
- 一种智能调控型多谱段偏振成像装置与方法
- 一种智能调控型多谱段偏振成像装置与方法，属于成像探测技术领域，解决了现有的光谱偏振成像装置无法实时切换多个谱段的偏振成像的问题。所述光学装置与多谱段偏振成像装置连接；所述多谱段偏振成像装置与智能调控装置连接；所述智能调控...
- 付强杨威刘楠罗凯明张月王超李英超
- 一种探测器信噪比获取方法及检测装置
- 探测器信噪比获取方法及检测装置。属于光学探测器性能检测技术领域，以及光学探测器性能评估领域。其解决了现有的成像探测系统的信噪比评估方法处理速度慢，计算复杂度高和评估结果不准确的问题。对于采集的探测器反馈的信号提取实部离散...
- 付强刘轩玮刘楠赵凤朱瑞张涛刘壮史浩东李英超
- 一种探测器信噪比获取方法及检测装置
- 探测器信噪比获取方法及检测装置。属于光学探测器性能检测技术领域，以及光学探测器性能评估领域。其解决了现有的成像探测系统的信噪比评估方法处理速度慢，计算复杂度高和评估结果不准确的问题。对于采集的探测器反馈的信号提取实部离散...
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- 一种基于堆叠偏振片阵列的多光谱偏振成像装置及方法
- 本发明具体涉及一种基于堆叠偏振片阵列的多光谱偏振成像装置及方法，装置包括：控制系统、显示系统、图像传感器系统和存储系统，控制系统与显示系统、图像传感器系统及存储系统相连接，显示系统还与存储系统相连接；图像传感器系统还与存...
- 付强杨威刘嘉楠谭勇罗凯明刘楠张肃战俊彤李英超
