李慧宇
- 作品数：9 被引量：23H指数：3
- 供职机构：哈尔滨工业大学更多>>
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- 高斯光束对2.52太赫兹雷达散射截面测量精度影响研究
- 随着雷达探测技术的持续发展，人们对雷达采集数据精度的要求也愈来愈高；雷达散射截面（缩写RCS）作为一个重要的目标识别参数，受到了广泛的关注。太赫兹因其独特的波长范围，更加适合应用于紧缩场与对物体的精细测量。但目前已有的太...
- 李慧宇
- 关键词：高斯光束
- 文献传递
- 高斯光圆柱太赫兹雷达散射截面的影响被引量：9
- 2012年
- 通过对缩比模型的太赫兹波段雷达散射截面（RCS）测量，可以获得微波波段全尺寸目标的RCS值，因此，RCS估算和测量是当前太赫兹重要的应用技术之一。RCS估算中，通常假定入射光为均匀平面波，但在实际测量应用中，常常采用发射类似高斯光束的太赫兹源。进行了横电波情况高斯光束入射时，无限长理想导体圆柱的太赫兹雷达散射截面估算。仿真研究了2．52THz激光准直入射和相位变化对后向雷达散射截面的影响，给出了RCS与散射角的变化曲线；同时与均匀平面波入射结果进行了比较分析。仿真结果表明，在测量圆柱半径10mm且入射光距圆柱轴心距离1ITI处的后向RCS时，用光斑半径30mm的高斯光束较好。
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- 关键词：雷达散射截面高斯光束圆柱
- 太赫兹雷达散射截面测量研究进展被引量：22
- 2012年
- 太赫兹雷达散射截面(RCS)测量技术是当前太赫兹重要的应用技术之一。利用太赫兹源,不仅可以测得目标太赫兹波段的RCS,还可以通过对缩比模型的RCS测量,获得微波波段全尺寸目标的RCS值。基于RCS定义及测量的一般要求,介绍了国外太赫兹RCS测量的主要成果;重点介绍三类测量装置及测量目标;给出部分代表性的测量结果。最后分析了利用飞秒激光器抽运晶体的太赫兹时域谱系统、CO2激光抽运太赫兹激光器的逆合成孔径雷达系统和信号合成器的相干探测系统在工作频率、待测目标尺寸和小型化等方面的特点。为我国太赫兹RCS测量技术的发展提供技术借鉴。
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- 关键词：激光技术太赫兹雷达散射截面缩比模型紧缩场
- 高斯光束对平板上突起的单站太赫兹雷达散射截面的影响
- 2013年
- 缩比模型测量可以帮助缩短物体雷达散射截面（RCS）测量的时间，并减少其成本，而由于太赫兹波所处的波长范围的独特性，所以其在雷达散射截面缩比测量中有较多的应用。在对粗糙表面的散射截面计算中，可以将模型简化为带有突起的平板。单站散射（后向散射）是雷达系统中比较常用的一种测量方式，也有很多针对平面波入射情况下的计算，但是由于太赫兹源所产生的高斯光束的能量分布与平面波不同，得到的雷达散射截面的结果也与平面波不同，常常会导致测量结果和计算结果中有一定的误差。利用镜像法仿真计算了入射光为高斯光束时平板上的突起在2．52THz频段处的雷达散射截面，详细比较了单站散射分别在二维和三维情况下，由于入射光为高斯光束对散射结果造成的影响。
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- 关键词：遥感太赫兹雷达散射截面突起高斯光束
- 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置
- 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置，属于太赫兹雷达散射截面测量技术领域。它解决了2.52THz波段的不同尺寸目标雷达散射截面的测量问题。本发明包括CO2激光泵浦连续太赫兹激光器、斩波器、分光片、电控可变扩束比装置、...
- 李琦薛凯李慧宇陈德应王骐
- 文献传递
- 高斯光束对二维导体平板太赫兹雷达散射截面影响被引量：3
- 2013年
- 因为在太赫兹(THz)波段下对物体缩比模型雷达散射截面(RCS)的测量可以减少RCS的测量周期与成本,所以太赫兹RCS计算与测量得到了更加广泛的关注。实际测量应用中,多采用类似高斯光束的太赫兹源,然而在计算中通常假定入射光为平面波。为研究这种假设给平板RCS计算结果带来的误差,计算了高斯光束入射条件下二维导体平板的RCS。仿真研究了入射光为2.52THz激光对导体平板雷达散射截面的影响,同时与平面波入射结果进行了比较分析。计算结果显示,当导体平板宽度为20mm时,选择波束宽度为40mm的高斯光束作为入射光可以将误差的震荡控制在0.3dB左右。
- 李慧宇李琦佘剑雨赵永蓬陈德应王骐
- 关键词：遥感太赫兹雷达散射截面高斯光束平板
- 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置
- 基于单支连续太赫兹激光源的RCS测量装置，属于太赫兹雷达散射截面测量技术领域。它解决了2.52THz波段的不同尺寸目标雷达散射截面的测量问题。本发明包括CO2激光泵浦连续太赫兹激光器、斩波器、分光片、电控可变扩束比装置、...
- 李琦薛凯李慧宇陈德应王骐
- 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置
- 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置，属于太赫兹测量技术领域。它解决了现有太赫兹RCS测量装置在测量尺寸相差较大的不同目标时，由于不能改变照射到测量目标的平行光束尺寸，会产生较大的测量误差的问题。本发明基于共焦离轴抛物...
- 李琦薛凯李慧宇陈德应王骐
- 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置
- 应用于太赫兹激光源的电控可变扩束比装置，属于太赫兹测量技术领域。它解决了现有太赫兹RCS测量装置在测量尺寸相差较大的不同目标时，由于不能改变照射到测量目标的平行光束尺寸，会产生较大的测量误差的问题。本发明基于共焦离轴抛物...
- 李琦薛凯李慧宇陈德应王骐
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