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祝红彬

作品数:6 被引量:51H指数:5
供职机构:电子科技大学光电信息学院电子薄膜与集成器件国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家杰出青年科学基金教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇专利

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 5篇焦平面
  • 5篇红外
  • 5篇红外焦平面
  • 2篇低噪
  • 2篇低噪声
  • 2篇面阵
  • 2篇焦平面阵列
  • 2篇红外焦平面阵...
  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇阵列
  • 1篇致冷
  • 1篇数据分析处理
  • 1篇平面阵
  • 1篇平面阵列
  • 1篇驱动电路
  • 1篇热成像
  • 1篇温度
  • 1篇温度控制
  • 1篇逻辑器件

机构

  • 6篇电子科技大学
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 6篇蒋亚东
  • 6篇祝红彬
  • 5篇刘子骥
  • 4篇李伟
  • 1篇阙旻
  • 1篇王涛
  • 1篇吕坚
  • 1篇张沛
  • 1篇金中

传媒

  • 2篇红外技术
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 4篇2010
  • 2篇2009
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
一种高精度非致冷红外焦平面温度控制系统的设计被引量:9
2009年
非致冷红外焦平面基准温度的稳定性和均匀性直接决定了其应用系统的性能。分析了基于PID算法的温度控制原理,在此理论基础上,设计了针对非致冷红外焦平面的高精度微型温度控制系统,该系统利用专用控制芯片ADN8830对TEC进行PID闭环自动控制,温度恒定范围在0~45℃时,实现了温度稳定度±0.01℃的性能指标。该系统还具有高精度、小型化、低噪声、快速稳定等优点,为提高红外焦平面系统温度稳定性、迅速达到稳定工作状态提供了有益的参考。
祝红彬李伟刘子骥蒋亚东
关键词:温度控制PID控制非致冷红外焦平面
低噪声非制冷红外焦平面阵列驱动电路的设计被引量:15
2010年
针对非制冷红外焦平面驱动电路在噪声和可靠性方面的高要求,分析了降低直流偏置电压噪声以降低红外焦平面阵列噪声的可行性,提出了一种新型低噪声的非制冷红外焦平面驱动电路。该驱动电路采用ADI公司的AD8606系列高精度低噪声运算放大器构成一个直流缓冲器,其具有强大的直流驱动能力和低噪声性能,实现了直流偏置电路。采用Altera公司的CycloneⅡ系列可编程逻辑器件,设计红外焦平面的时序驱动电路。测试结果表明:焦平面探测器均方根噪声降低至397.83μV,为后续非制冷红外热像仪的研制奠定了基础。
张沛祝红彬吕坚蒋亚东
关键词:低噪声非制冷红外焦平面阵列驱动电路可编程逻辑器件
一种红外焦平面阵列器件的测试装置及其测试方法
本发明公开了一种红外焦平面阵列器件的测试装置,包括辐射源与焦平面阵列模块、驱动控制模块和数据采集处理模块,辐射源与焦平面阵列模块包括红外辐射源、光学系统、被测试红外焦平面阵列;驱动控制模块包括偏压控制模块、温度控制模块和...
刘子骥蒋亚东王涛阙旻祝红彬
文献传递
基于单片机SPI器件的串口控制被引量:14
2009年
集成电路设计越来越向系统级的方向发展,并且越来越强调模块化的设计。SPI总线是Motorola公司提出的一个同步串行外设接口,容许CPU与各种外围接口器件以串行方式进行通信、交换信息。在此简述了SPI总线的特点,介绍了它的四条信号线及SPI串行总线接口的典型应用。重点描述SPI串行总线接口在DA芯片中的应用,并给出用C语言描述实现该接口通信的部分程序。该程序已经在AT89C2051中进行验证。
祝红彬李伟刘子骥蒋亚东
关键词:SPI串口控制单片机
一种低噪声红外焦平面器件采集电路的设计被引量:11
2010年
提出了384×288非制冷红外焦平面UL03162驱动电路和焦平面器件模拟输出信号数字化的设计方法,从理论和实际上论述了偏置电压对焦平面器件性能的影响,阐明了偏置电压的产生方案,并简要说明时序控制产生和转换器选择的方法,为焦平面高性能、稳定可靠的工作提供了必要条件。通过测试系统检测,RMS噪声为312.4μV,充分发挥了该器件的优良性能。
祝红彬李伟刘子骥蒋亚东金中
关键词:采集电路红外焦平面低噪声红外焦平面器件
基于PCIE的红外焦平面探测器测试系统被引量:8
2010年
介绍了一套自制高效的红外焦平面器件性能参数测试系统,建立了包括控制模块、辐射源、UFPA模块、信号采集模块和上位机程序在内的测试平台,分析了该系统平台的关键技术.系统可实现实时的数据采集,同时对RMS噪声、非均匀性、响应率、探测率、噪声等效功率和噪声等效温差等关键参数进行快速有效的计算分析,并能准确统计出盲元的数量和位置,分析、评估和存储器件每个像元的性能参数.
刘子骥蒋亚东祝红彬李伟
关键词:红外焦平面测试系统PCIE
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