陈益亮
- 作品数：6 被引量：8H指数：2
- 供职机构：天津大学更多>>
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- 相关领域：电子电信机械工程更多>>
- 干涉粒子成像测量系统可测粒径范围及精度分析被引量：1
- 2013年
- 基于干涉粒子成像(IPI)测量公式,分析了影响IPI系统中最大和最小可测粒子尺寸以及粒径测量精度的因素。对一给定的CCD、成像透镜、入射光波波长、光束宽度,分析了物距和离焦距离对粒子干涉条纹图大小的影响,进而分析了对粒径测量精度和可测范围的影响。得出了在满足测量范围要求的条件下,尽量采用相对较大的收集角,干涉条纹图尺寸越大,粒径测量误差越小,但必须考虑条纹图重叠,且对条纹间距进行插值得到亚像素精度,给出了对标准粒子测量实验光路系统设计实例和测量结果。
- 吕且妮吕通靳文华陈益亮
- 激光干涉粒子成像测量技术的理论与实验研究
- 粒子场测量在工业、科研等领域具有重要的意义。激光干涉粒子成像技术是一种相对较新的粒子测量技术,它利用粒子散射光的干涉图得到粒子尺寸和位置信息,实现粒子场测量。本文对激光干涉粒子成像测量技术的理论及其在雾场中的应用进行了研...
- 陈益亮
- 文献传递
- 激光干涉粒子成像测量干涉图处理算法研究被引量：2
- 2011年
- 提出一种基于小波匹配滤波和傅里叶变换技术的干涉图条纹数/条纹间距的提取方法。该方法是先对粒子场干涉条纹图和粒子掩模图像,利用Mexican Hat小波分别提取其边缘图像,对所得到的边缘图像进行2D相关运算得到粒子的中心位置。根据粒子的中心坐标及粒子图像形状大小提取出单个粒子干涉图像。再对每个粒子干涉图像进行傅里叶变换,利用修正Rife方法提取条纹频率,得到粒子干涉条纹数/条纹间距,其测量精度可达到亚像素精度,并进行了模拟和实验测量。当重叠系数γ<11.62%时,算法识别率高于90%,频率提取误差小于0.0185%。对51.1μm的标准粒子测量的不确定性为±0.41μm,绝对误差1.31μm。研究结果表明了该算法的可行性。
- 吕且妮葛宝臻陈益亮张以谟
- 关键词：图像处理傅里叶变换
- 激光干涉粒子成像乙醇喷雾场粒子尺寸和粒度分布测量被引量：7
- 2011年
- 研究了一种基于激光干涉粒子成像(IPI)技术的粒子尺寸测量方法。该方法是利用粒子散射光在成像系统离焦像面上所形成的干涉条纹图,采用小波变换和模板匹配提取条纹图像中心,利用傅里叶变换和修正Rife方法提取干涉条纹间距/条纹数,进而计算得到粒子尺寸大小,其测量精度可达到亚像素精度。对51.1μm的标准粒子进行了测量,粒径测量值为(49.79±0.41)μm,绝对误差1.31μm,并应用于乙醇雾场粒子测量,给出了沿x方向和y方向不同测量点处的瞬时雾场粒子的粒径分布、平均粒径以及索太尔平均直径(SMD)。
- 吕且妮葛宝臻陈益亮张以谟
- 关键词：粒度分布喷雾场
- 一种基于双光束照射的干涉粒子成像测量方法
- 本发明公开了一种基于双光束照射的干涉粒子成像测量方法。该方法采用两条强度相等的片状光束相向照射粒子场，在散射角为90°区域记录粒子散射光的聚焦像（两点像）和/或离焦像（条纹图）。基于单向梯度匹配和傅里叶变换技术，提取粒子...
- 吕且妮王祥吕通靳文华陈益亮
- 文献传递
- 基于双光束相向照射的干涉粒子成像测量装置
- 本实用新型公开了一种基于双光束照射的干涉粒子成像测量装置，包括片状光束相向照射系统和接收成像系统，片状光束相向照射系统由激光器、扩束准直系统、光束压缩系统、分束镜和反射镜组组成。接收成像系统包括聚焦成像系统和离焦成像系统...
- 王祥吕且妮吕通靳文华陈益亮
- 文献传递
