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向刚

作品数:13 被引量:19H指数:2
供职机构:哈尔滨工业大学更多>>
发文基金:中国人民解放军总装备部预研基金航天支撑技术基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 10篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 5篇SOC
  • 4篇压缩数据
  • 4篇芯片
  • 4篇漏极
  • 3篇掩码
  • 3篇系统芯片
  • 3篇复用
  • 3篇安全控制
  • 3篇测试数据
  • 3篇传输门
  • 2篇选择器
  • 2篇延时
  • 2篇硬件
  • 2篇硬件冗余
  • 2篇源极
  • 2篇冗余
  • 2篇时延
  • 2篇向量
  • 2篇SOCS
  • 2篇并行测试

机构

  • 13篇哈尔滨工业大...
  • 1篇哈尔滨工程大...

作者

  • 13篇向刚
  • 12篇俞洋
  • 10篇乔立岩
  • 5篇彭喜元
  • 3篇彭宇
  • 2篇王帅
  • 2篇杨智明
  • 2篇邓立宝
  • 1篇于冰
  • 1篇赵利国

传媒

  • 1篇电子测量技术
  • 1篇电子学报

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 2篇2013
  • 4篇2012
  • 4篇2011
  • 1篇2010
13 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法
基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法,它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出...
俞洋向刚乔立岩彭喜元
具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法
一种具有时间序列状态变量的工业设备故障检测方法,属于工业设备故障检测领域。本发明针对现有工业系统的故障检测依赖故障数据建立检测模型,故障数据获取难度大造成方法难以适用的问题。包括:采集时间序列状态数据作为训练数据;计算训...
杨智明向刚俞洋赵利国于冰
文献传递
基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法
基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法,涉及SOC的测试方法,解决了现有测试方法在对IP核进行检测时,存在压缩率较低的问题,它包括步骤一:把电路对应的测试数据进行压缩;步骤二:将压缩后的数据传输并存储在ATE上;步骤三:...
俞洋乔立岩彭宇陶丽楠向刚
一种基于编码的SOC的测试方法
一种基于编码的SOC的测试方法,涉及SOC的测试方法,解决了编码方法在对无关位进行赋值时未考虑到最优化方法,从而损失了潜在的压缩效率的问题,它包括如下步骤:步骤一、把测试数据进行压缩;步骤二、将压缩后的数据传输并存储在A...
俞洋乔立岩向刚陶丽楠王帅
文献传递
基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法
基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法,涉及SOC的测试方法,解决了现有测试方法在对IP核进行检测时,存在压缩率较低的问题,它包括步骤一:把电路对应的测试数据进行压缩;步骤二:将压缩后的数据传输并存储在ATE上;步骤三:...
俞洋乔立岩彭宇陶丽楠向刚
文献传递
SoC测试优化及其应用技术研究
微电子技术的飞速发展使系统芯片(SoC,System-on-a-Chip)的出现成为可能。尽管 IP(Intellectual Property)复用的设计技术能加快SoC的设计过程,但随着单个芯片上集成 IP核数目的增...
向刚
关键词:SOC芯片低功耗测试优化技术数据压缩
文献传递
基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法
基于IEEE1500标准的IP核测试传输组件及其控制方法,它涉及系统芯片的IP核测试传输组件及其控制方法。它为解决目前IP核安全控制测试壳单元和控制方法在安全移位过程中所存在的功能路径时延增加和额外的面积开销的问题而提出...
俞洋向刚乔立岩彭喜元
文献传递
SOCs测试封装扫描信号输入单元和扫描结果输出单元
SOCs测试封装扫描信号输入单元和扫描结果输出单元,涉及一种SOCs测试封装扫描单元结构,为了解决实现母核和子核的并行测试的不安全问题,SOCs测试封装扫描信号输入单元,它包括一号多路选择器、二号多路选择器、三号多路选择...
邓立宝俞洋乔立岩向刚彭喜元
基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法被引量:2
2011年
为了解决测试信息传递的问题,IEEE组织推出了IEEE1500 IP(Intellectual Property)核测试封装标准以标准化IP核测试接口.然而该标准给出的典型测试封装存在由测试数据扫描移入造成的不安全隐患.本文提出了一种基于安全控制边界单元的IP核测试封装方法.这种方法的核心思想是在典型的测试封装边界单元的基础上添加一个CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)传输门,有效消除了测试过程中扫描移位对被测IP核电路的影响.实验结果表明,这种基于安全控制边界单元的测试封装能够在完成测试任务的同时,有效降低IP核输入端口的测试数据数据跳变次数,使IP核处于安全状态,还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗.
俞洋向刚乔立岩
关键词:系统芯片传输门
基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计被引量:15
2010年
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。
乔立岩向刚俞洋王帅
关键词:SOC测试
共2页<12>
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