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刘敏
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李明德
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1996
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测定晶界偏析的一种新方法——折射率法
1996年
晶界的偏析作用,对材料性能的影响极大。因此,在研制新材料时,必然要经常检测晶界的偏析,一般都采用X射线衍射仪,电子探针微区分析仪,俄歇电子能谱仪等。这些仪器昂贵,分析费用高,而且仅少数科研机构、高校才有这些设备,为检测工作带来诸多不便,本文提出一种设备简单、费用低廉、准确可靠的方法——折射率法。
李明德
刘敏
李耘
李涛
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折射率
偏析
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