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王世华

作品数：6 被引量：38H指数：4
供职机构：成都科技大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：机械工程金属学及工艺电子电信理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 3篇激光
  • 3篇激光表面
  • 3篇激光器
  • 3篇半导体
  • 3篇半导体激光
  • 3篇半导体激光器
  • 2篇面粗糙度
  • 2篇表面粗糙度
  • 2篇测量仪
  • 2篇粗糙度
  • 1篇散射
  • 1篇同轴式
  • 1篇稳频
  • 1篇稳频技术
  • 1篇络合物
  • 1篇激光波长
  • 1篇光波
  • 1篇光波长
  • 1篇光散射
  • 1篇分辨率

机构

  • 6篇成都科技大学
  • 1篇格拉斯哥大学

作者

  • 6篇王世华
  • 5篇周肇飞
  • 4篇迟桂纯
  • 3篇周卫东

传媒

  • 3篇成都科技大学...
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇计量学报
  • 1篇导弹与航天运...

年份

  • 2篇1997
  • 2篇1995
  • 1篇1994
  • 1篇1992
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
碘(Ⅰ)大环四胺配合物的合成及表征
1992年
以配体诱导歧化,氧化及取代法首次成功合成了饱和大环四胺的碘(Ⅰ)配合物,产物由元素分析、红外、电子及核磁共振谱表征。光谱分析表明,碘正离子的配位并未引起大环多胺构型的改变。
王世华JM温菲尔德RD皮柯克
关键词：大环四胺碘络合物
散射式激光表面粗糙度测量仪被引量：5
1997年
介绍一种基于激光在粗糙表面散射原理的便携式激光表面粗糙度测量仪。它是以小型的半导体激光器为光源，在光路结构上采用远心光路，并用半散射带法处理经试件微观形貌调制的散射光带，使得测量对试件的放置位置要求低（允许的倾斜度Ｘ向为±２°，Ｙ向为±５°，允许的测量距离偏差为±２ｍｍ），测量范围大（Ｒａ值为０．００５～２μｍ），成功地解决了测量准确度高低与测量范围大小相矛盾的粗糙度测量问题。配置附件可对有特殊形面的试件和内表面的粗糙度进行测量。该仪器结构简单、操作方便，准确度能满足生产实际的需要，适合于生产现场进行快速、无损检测。
王世华周肇飞
关键词：光散射
便携式激光表面粗糙度测量仪被引量：6
1997年
介绍了一种基于光散射原理的便携式激光表面粗糙度测量仪。它采用半导体激光器为光源，以远心光路结构接收、处理经粗糙表面调制的散射光带，成功地解决了粗糙度测量精度高低与测量范围大小相矛盾的问题。仪器结构简单、操作方便、测量效率高。
王世华周肇飞周卫东迟桂纯
关键词：表面粗糙度测量仪半导体激光器
同轴式高分辨率激光轮廓仪被引量：15
1994年
本文着重介绍了一种新式高分辨率激光轮廓仪的原理、结构。此仪器测量表面微观形貌时，在高度方向的分辨率按国际惯用的均方值表示已优于１，并且在测量结果的形状误差方面明显优于国外研究成果。使它达到如此高分辨率的关键在于从光学结构上保证了优良的抗振动干扰性能，即使试件受外界振动干扰幅度达７０纳米时，仍能正常进行亚纳米级分辨率的测量。
周肇飞王世华周卫东迟桂纯
关键词：高分辨率
激光稳频技术的新发展被引量：4
1995年
本文着重介绍精密计量行业中运用的Ｈｅ－Ｎｅ激光器的稳频技术，并综述了Ｈｅ－Ｎｅ激光器单模、双模稳频技术的现状和发展动向以及新兴的半导体激光器稳频技术．
王世华周肇飞迟桂纯
关键词：稳频技术半导体激光器激光器激光波长
激光表面粗糙度测量仪的研制被引量：11
1995年
激光表面粗糙度测量仪利用半导体激光器为光源，激光束投射到试件表面经微观形貌调制而形成散射场，根据对散射场分布的处理测量表面粗糙度。接收半散射带的方法处理散射光分布，测量对试件的放置位置要求低（允许的最大倾斜度Ｘ向±２°，ｙ向±５°，测量距离偏差限为±２ｍｍ）；测量范围Ｒａ从０．００５μｍ到２μｍ，配置附件可对有特殊形面的试件和内表面的粗糙度进行测量．
王世华周肇飞周卫东迟桂纯
关键词：表面粗糙度半导体激光器测量仪激光
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