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刘胜

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：桂林电子科技大学更多>>
发文基金：广西壮族自治区自然科学基金更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇电流
  • 1篇特征点

机构

  • 1篇桂林电子科技...

作者

  • 1篇韦寿祺
  • 1篇刘胜
  • 1篇朱进鹏

传媒

  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2017
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种用于偏扫电流校正的特征点参数采集装置被引量：1
2017年
电子束快速成型设备偏扫系统工作频率高,磁偏扫装置的铁损、涡流等损耗导致偏扫轨迹产生偏差。通过获取偏扫区域内特征点基准偏扫参数并由插补算法计算区域内任意一点偏扫参数,能够较好地抑制动态偏差;但由光学观察系统判断电子束斑点位置所获得的基准偏扫参数精确性较低。为提高偏扫轨迹精度,在现有电子束快速成型机上加装一种特征点参数采集装置,收集产生的二次反射电子,通过二次反射电子信号判断特征点通孔中心与电子束斑点中心的对中性。实验表明:当电子束斑点位于特征点中心且聚焦于上表面时,二次反射电子信号最小,此时获得的基准偏扫参数精确性高,能够提高电子束偏扫加工的精度。
朱进鹏韦寿祺刘胜
关键词：特征点
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