您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇核科学技术

主题

  • 3篇照射
  • 2篇电离室
  • 2篇定时系统
  • 2篇荧光屏
  • 2篇硬件
  • 2篇硬件控制
  • 2篇照射野
  • 2篇闪烁体
  • 2篇射野
  • 2篇束流
  • 2篇控制系统
  • 2篇剂量率
  • 2篇加速器
  • 2篇加速器控制系...
  • 2篇分辨率
  • 2篇辐照
  • 2篇高分辨率
  • 1篇点扫描
  • 1篇照射位置
  • 1篇质子

机构

  • 5篇中国科学院上...
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 5篇殷重先
  • 5篇刘鸣
  • 5篇舒航
  • 5篇苗春晖
  • 2篇张娟
  • 2篇沈立人
  • 2篇褚克成
  • 2篇谷鸣
  • 2篇赵黎颖
  • 2篇戴晓磊
  • 1篇赵振堂

传媒

  • 1篇核技术

年份

  • 1篇2019
  • 3篇2018
  • 1篇2016
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种基于硬件控制的辐照扫描装置及辐照扫描方法
本发明提供一种基于硬件控制的辐照扫描装置及辐照扫描方法,该装置包括照射控制系统;照射监测系统;加速器定时系统;以及加速器控制系统;其中,所述照射监测系统和所述照射控制系统采用VME架构实现,所述照射控制系统与所述照射监测...
舒航殷重先刘鸣褚克成赵黎颖戴晓磊苗春晖赵斌清
文献传递
一种高分辨率自动束流探测装置及方法
本发明提供一种高分辨率自动束流探测装置和方法,其中该装置包括壳体,该壳体的两侧侧壁上分别设有相对的闪烁体荧光屏和束流阻止器;所述壳体内设有反射镜以及用于探测由所述闪烁体荧光屏发出并经所述反射镜反射的光线的CCD相机,所述...
舒航张娟殷重先谷鸣沈立人刘鸣苗春晖赵斌清
文献传递
质子点扫描照射位置控制系统设计被引量:4
2018年
上海质子治疗装置的束配系统采用点扫描的治疗模式。为了满足照射率与照射剂量分布精度的要求,需要设计一套精确的点扫描照射位置控制系统。点扫描照射位置控制系统通过二次多项式以及薄板样条曲线拟合得到了扫描磁场强度与位置电离室读出、扫描磁场强度与等中心束流位置之间的映射关系。在实际治疗时,通过治疗计划系统要求的等中心束流位置计算出目标扫描磁场强度,采用前馈算法控制扫描磁场到达目标磁场,同时通过比较位置电离室读出与目标位置之间的偏差来校正下一个点的照射位置。带束测试结果显示:在等中心处测得的质子束流在X方向和Y方向的照射位置偏差的最大值分别为0.8 mm和0.6 mm,均方值均为0.2 mm。该照射位置控制系统能够实现精确的点扫描照射。
苗春晖刘鸣刘鸣殷重先舒航
关键词:质子治疗点扫描系统设计
一种基于硬件控制的辐照扫描装置及辐照扫描方法
本发明提供一种基于硬件控制的辐照扫描装置及辐照扫描方法,该装置包括照射控制系统;照射监测系统;加速器定时系统;以及加速器控制系统;其中,所述照射监测系统和所述照射控制系统采用VME架构实现,所述照射控制系统与所述照射监测...
舒航殷重先刘鸣褚克成赵黎颖戴晓磊苗春晖赵斌清
文献传递
一种高分辨率自动束流探测装置及方法
本发明提供一种高分辨率自动束流探测装置和方法,其中该装置包括壳体,该壳体的两侧侧壁上分别设有相对的闪烁体荧光屏和束流阻止器;所述壳体内设有反射镜以及用于探测由所述闪烁体荧光屏发出并经所述反射镜反射的光线的CCD相机,所述...
舒航张娟殷重先谷鸣沈立人刘鸣苗春晖赵斌清
共1页<1>
聚类工具0