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赵雪冰

作品数:14 被引量:0H指数:0
供职机构:复旦大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:一般工业技术理学电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 13篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇一般工业技术
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 8篇电镜
  • 8篇射电
  • 8篇透射电镜
  • 7篇芯片
  • 6篇电学
  • 6篇电学测试
  • 6篇绝缘
  • 6篇绝缘层
  • 4篇杜瓦
  • 3篇信号
  • 3篇信号输入
  • 3篇原位
  • 3篇原位低温
  • 3篇透射电子显微...
  • 3篇微波频率
  • 3篇离子束
  • 3篇聚焦离子束
  • 3篇基片
  • 3篇硅基
  • 3篇硅基片

机构

  • 14篇复旦大学
  • 1篇之江实验室

作者

  • 14篇赵雪冰
  • 14篇车仁超
  • 12篇张捷
  • 3篇王超
  • 2篇刘璐

传媒

  • 1篇电子显微学报

年份

  • 3篇2024
  • 1篇2023
  • 2篇2020
  • 5篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2016
14 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片
本发明属于电子显微镜测试技术领域,具体为一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片,包括硅基片和绝缘层,以及在硅基片正面绝缘层上的金属电路;所述金属电路至少包含两个金属电极,分别用于接地和信号输入;金属电极靠近样品...
车仁超赵雪冰张捷
透射电子显微镜原位低温高频信号样品杆的研制
2023年
透射电子显微镜原位测试技术是未来电子显微学发展的聚焦方向,尤其是多种原位条件复合的特种样品杆,是目前科学研究急需的重要设备。本文简述了原位低温高频脉冲信号样品杆的设计方案,通过样品杆和芯片设计,实现样品在低温、电流、磁场和高频脉冲信号作用下的原位测试,可以实现100~300 K的连续变温,实现10 MHz~2 GHz高频脉冲信号的通入,可对微纳尺度功能材料在多种物理场作用下的结构与性质变化进行深入的分析。
裴科张瑞轩杨利廷赵雪冰车仁超
关键词:透射电子显微镜芯片设计
透射电子显微镜原位加电极样品台
本发明属于透射电子显微镜配件技术领域,具体为一种透射电镜原位加电极样品台。本发明样品台由金属电极、样品槽、漆包线、样品观察窗和样品压环五部分组成;样品台后端接有杜瓦罐,可以加液氮实现从100K到373K温度区间内的控温;...
车仁超王超赵雪冰张捷
文献传递
带电粒子束光学系统的束分离装置
本发明涉及一种带电粒子束光学系统的束分离装置,包括:金属壳体;八个布置在所述金属壳体内并围绕一个共同圆心的金属电极,其中,相邻的三个金属电极连成一个整体并作为正极,与所述正极位置相对的另外三个金属电极连成一个整体并作为负...
车仁超赵雪冰王超杨利廷裴科
用于聚焦离子束制样工艺的透射电镜原位电学测试芯片
本发明属于电子显微镜测试技术领域,具体为一种用于聚焦离子束制样工艺的透射电镜原位电学测试芯片。本发明的电镜原位电学测试芯片,包括硅基片和硅基片两面的绝缘层以及硅基片正面绝缘层上的金属电路;金属电路用于对样品施加或测量各种...
车仁超赵雪冰张捷
透射电镜的原位加电砷化铟/锑化镓超晶格半导体样品的制备方法
本发明属于纳米功能材料技术领域,具体为一种透射电镜的原位加电砷化铟/锑化镓超晶格半导体样品的制备方法。本发明由高温导电粘结胶制备、超晶格体材料透射样品和原位电极制备三部分组成。砷化铟/锑化镓化合物超晶格半导体通过导电胶对...
车仁超毕寒赵云昊刘璐赵雪冰张捷
适用于高频信号传输的原位低温透射电子显微镜样品杆
本发明属于透射电子显微镜技术领域,具体为一种适用于高频信号传输的原位低温透射电子显微镜样品杆。包括杜瓦罐,过渡仓,样品杆,样品杆头,同轴电缆;同轴电缆采用四根同轴导线,在无氧铜内芯与外杆间的空隙引出,通过法兰和真空接头引...
车仁超曾庆文赵雪冰张捷
文献传递
一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片
本发明属于电子显微镜测试技术领域,具体为一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片,包括硅基片和绝缘层,以及在硅基片正面绝缘层上的金属电路;所述金属电路至少包含两个金属电极,分别用于接地和信号输入;金属电极靠近样品...
车仁超赵雪冰张捷
文献传递
透射电子显微镜原位加电极样品台
本发明属于透射电子显微镜配件技术领域,具体为一种透射电镜原位加电极样品台。本发明样品台由金属电极、样品槽、漆包线、样品观察窗和样品压环五部分组成;样品台后端接有杜瓦罐,可以加液氮实现从100K到373K温度区间内的控温;...
车仁超王超赵雪冰张捷
文献传递
一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片
本实用新型属于电子显微镜测试技术领域,具体为一种直流至微波频率的透射电镜原位高频电学测试芯片,包括硅基片和绝缘层,以及在硅基片正面绝缘层上的金属电路;所述金属电路至少包含两个金属电极,分别用于接地和信号输入;金属电极靠近...
车仁超赵雪冰张捷
文献传递
共2页<12>
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