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文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 4篇温度特性
  • 3篇辐射源
  • 2篇性能参数
  • 2篇运算放大器
  • 2篇噪声
  • 2篇噪声数据
  • 2篇判据
  • 2篇像元
  • 2篇方程组
  • 2篇放大器
  • 1篇探测器
  • 1篇环境约束
  • 1篇辐射温度
  • 1篇标定方法
  • 1篇等效值

机构

  • 4篇中国科学院

作者

  • 4篇崔维鑫
  • 4篇周士兵
  • 4篇朱进兴
  • 4篇于远航
  • 4篇孔晓健
  • 4篇邹鹏

年份

  • 2篇2018
  • 2篇2016
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法
本发明公开了一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,首先在一定辐射条件下由检测装置分别获得响应率和噪声数据,一方面通过辐射响应温度特性公式计算标准辐射和辐射偏差率,利用标准辐射计算辐射不一致性,另一方面计算噪声等...
邹鹏孔晓健周士兵朱进兴于远航崔维鑫
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用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法
本发明公开了一种用于线阵探测器可靠性筛选的器件性能评估方法,首先在一定辐射条件下由检测装置分别获得响应率和噪声数据,一方面通过辐射响应温度特性公式计算标准辐射和辐射偏差率,利用标准辐射计算辐射不一致性,另一方面计算噪声等...
邹鹏孔晓健周士兵朱进兴于远航崔维鑫
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用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法
本发明公开了用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法,首先在多种辐射条件下由检测装置多次测量获得响应量,并记录设置辐射温度和环境温度,解算方程组获得像元辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子,继而得到像元...
孔晓健邹鹏周士兵崔维鑫朱进兴于远航
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用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法
本发明公开了用于线阵探测器可靠性筛选的像元辐射响应标定方法,首先在多种辐射条件下由检测装置多次测量获得响应量,并记录设置辐射温度和环境温度,解算方程组获得像元辐射线性影响因子、环境温度线性影响因子、常数因子,继而得到像元...
孔晓健邹鹏周士兵崔维鑫朱进兴于远航
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共1页<1>
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