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刘汉莉
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北京师范大学分析测试中心
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合作作者
尚世铉
北京师范大学分析测试中心
沈繁宜
北京林业大学基础部
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1986
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硫化锌薄膜的折射率分析
1986年
我们利用椭偏法对硫化锌薄膜的光学厚度和折射率进行了实时的监控,并利用电子显微镜和X射线光电子能谱仪对硫化锌薄膜的结构和化学成份进行了观察、测量和分析,讨论了硫化锌薄膜的折射率与化学成份、薄膜结构的关系。
刘汉莉
沈繁宜
尚世铉
单锦安
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折射率变化
光学厚度
光电子能谱仪
椭偏仪
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