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邓建峰

作品数:6 被引量:1H指数:1
供职机构:大连理工大学更多>>
发文基金:教育部重点实验室开放基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:金属学及工艺电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信

主题

  • 5篇金属
  • 5篇金属间化合物
  • 4篇焊点
  • 3篇钎焊
  • 3篇钎料
  • 3篇封装
  • 2篇钎焊界面
  • 2篇全金属
  • 2篇组合体
  • 2篇温度梯度
  • 2篇焊层
  • 2篇焊剂
  • 2篇封装工艺
  • 2篇NI
  • 2篇N-
  • 1篇电子封装
  • 1篇微电子
  • 1篇微电子封装
  • 1篇金属基

机构

  • 6篇大连理工大学
  • 1篇上海大学

作者

  • 6篇邓建峰
  • 5篇赵宁
  • 3篇钟毅
  • 2篇黄明亮
  • 2篇王云鹏
  • 2篇杨帆
  • 2篇张志杰
  • 2篇赵杰
  • 2篇马海涛
  • 1篇殷录桥

传媒

  • 1篇金属学报

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 3篇2017
  • 1篇2015
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
金属间化合物薄膜的制备方法
一种金属间化合物薄膜的制备方法,是在第一金属基底上制备第一钎料金属层,可以在第二金属基底上制备第二钎料金属层,再将涂覆焊剂的第一钎料金属层和第二钎料金属层对准接触放置,形成一个组合体;或将第一钎料金属层第二金属基底对准接...
黄明亮赵宁杨帆张志杰邓建峰赵杰
文献传递
一种全金属间化合物窄间距微焊点的制备方法及结构
本发明提供一种全金属间化合物窄间距微焊点的制备方法及结构,在芯片上制备至少一个第一金属焊盘和钎料凸点或钎料层,在载板上制备至少一个第二金属焊盘和可焊层;在可焊层的表面涂覆焊剂;将钎料凸点或钎料层和可焊层对准放置后加热,钎...
赵宁钟毅马海涛邓建峰王云鹏王明耀
文献传递
热迁移下Ni/Sn-xZn/Ni和Ni/Sn-xCu/Ni微焊点钎焊界面反应研究
微电子封装技术不断朝着高密度、高可靠性的趋势发展。在此背景下,三维(3D)封装等先进封装技术应运而生,成为半导体技术以低成本延续摩尔定律的重要出路之一。3D封装技术中微焊点尺寸不断减小,导致电流密度的急剧增加,焦耳热问题...
邓建峰
关键词:微电子封装
一种全金属间化合物窄间距微焊点的制备方法及结构
本发明提供一种全金属间化合物窄间距微焊点的制备方法及结构,在芯片上制备至少一个第一金属焊盘和钎料凸点或钎料层,在载板上制备至少一个第二金属焊盘和可焊层;在可焊层的表面涂覆焊剂;将钎料凸点或钎料层和可焊层对准放置后加热,钎...
赵宁钟毅马海涛邓建峰王云鹏王明耀
文献传递
热迁移下Ni/Sn-xCu/Ni微焊点钎焊界面金属间化合物的演变被引量:1
2017年
研究了240℃,温度梯度为1045℃/cm的热迁移条件下Cu含量对Ni/Sn-xCu/Ni(x=0.3、0.7、1.5,质量分数,%)微焊点钎焊界面反应的影响。结果表明,在热迁移过程中微焊点发生了界面金属间化合物(IMC)的非对称生长和转变以及Ni基体的非对称溶解。在Ni/Sn-0.3Cu/Ni微焊点中,虽然界面IMC类型始终为初始的(Ni,Cu)3Sn4,但出现冷端界面IMC厚度明显大于热端的非对称生长现象。在Ni/Sn-0.7Cu/Ni和Ni/Sn-1.5Cu/Ni微焊点中,界面IMC类型逐渐由初始的(Cu,Ni)6Sn5转变为(Ni,Cu)3Sn4,且出现冷端滞后于热端的非对称转变现象;Ni/Sn-1.5Cu/Ni微焊点冷、热端发生IMC转变的时间均滞后于Ni/Sn-0.7Cu/Ni微焊点。通过分析微焊点冷、热端界面IMC生长所需Cu和Ni原子通量,确定Cu和Ni的热迁移方向均由热端指向冷端。微焊点中的Cu含量显著影响主热迁移元素的种类,进而影响冷、热端界面IMC的生长和转变规律。此外,热迁移促进了热端Ni原子向钎料中的扩散,加速了热端Ni基体的溶解,溶解到钎料中的Ni原子大部分迁移到冷端并参与界面反应。相反,热迁移显著抑制了冷端Ni原子的扩散,因此冷端Ni基体几乎不溶解。
赵宁邓建峰钟毅殷录桥
关键词:金属间化合物
金属间化合物薄膜的制备方法
一种金属间化合物薄膜的制备方法,是在第一金属基底上制备第一钎料金属层,可以在第二金属基底上制备第二钎料金属层,再将涂覆焊剂的第一钎料金属层和第二钎料金属层对准接触放置,形成一个组合体;或将第一钎料金属层第二金属基底对准接...
黄明亮赵宁杨帆张志杰邓建峰赵杰
文献传递
共1页<1>
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