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铜合金表面元素的飞行时间二次离子质谱微区原位分析被引量：2: 2016年; 铜合金中含有Pb、Sn、Zn、Ni等元素,其分布和相对含量对铜合金的性能具有重要影响。本工作采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)法对铜合金标准样品GBW02137和GBW02140的表面进行了微区原位分析;采用束斑直径约5μm的一次离子束轰击500μm×500μm区域内的混合固体合金样品,实现了Cu、Pb、Ni、Sn和Zn元素的表面成像,并测量了各元素在铜合金样品表面的分布情况;利用标样校准法对GBW02137、GBW02140中的^(64)Zn/^(120)Sn、^(208)Pb/^(120)Sn值进行相对含量分析。实验结果表明:TOF-SIMS法可用于铜合金中Cu、Pb、Ni、Sn和Zn等元素的表面成像和相对含量测定;采用标样校准法进行相对含量分析时,测得的^(64)Zn/^(120)Sn相对误差小于5.1%,RSD优于2.5%,^(208)Pb/^(120)Sn的测量相对误差较大,接近27%,但其RSD仍低于5%。; 包泽民刘光达龙涛王培智石坚邱春玲田地张玉海刘敦一; 关键词：铜合金

应用于TOF质谱仪的离子检测器和质量分析器: 本实用新型公开了一种应用于TOF质谱仪的离子检测器和质量分析器。离子检测器包括：金属屏蔽罩，至少一个偏转板组，每个偏转板组的脉冲电源，和至少两个由微通道板、宽频电流放大器和高速模数转换器组成的接收器；所有偏转板组设置在金...; 龙涛包泽民王培智齐国臣姜若邻石坚张玉海刘敦一; 文献传递

应用于TOF质谱仪的离子检测器、质量分析器及离子检测的控制方法: 本发明公开了一种应用于飞行时间质谱仪的离子检测器、质量分析器及离子检测的控制方法。离子检测器包括：金属屏蔽罩，至少一个偏转板组，每个偏转板组的脉冲电源，和至少两个由微通道板、宽频电流放大器和高速模数转换器组成的接收器；所...; 龙涛包泽民王培智齐国臣姜若邻石坚张玉海刘敦一; 文献传递

应用于TOF质谱仪的离子检测器、质量分析器及离子检测的控制方法: 本发明公开了一种应用于飞行时间质谱仪的离子检测器、质量分析器及离子检测的控制方法。离子检测器包括：金属屏蔽罩，至少一个偏转板组，每个偏转板组的脉冲电源，和至少两个由微通道板、宽频电流放大器和高速模数转换器组成的接收器；所...; 龙涛包泽民王培智齐国臣姜若邻石坚张玉海刘敦一

边缘效应和几何效应对SHRIMP IIe MC氧同位素分析精度影响被引量：2: 2015年; SHRIMPⅡe MC被广泛应用于锆石、磷灰石、碳酸钙等副矿物的氧同位素分析。本工作针对其氧同位素分析过程中的边缘效应及几何效应(X-Y效应),建立二次离子提取结构的SIMION仿真模型,探讨了XY效应、边缘效应的产生原因及影响因素,为SHRIMPⅡe MC高精度氧同位素分析提供指导。通过限制氧同位素分析点位置(样品位于靶中间直径10 mm内,靶表面粗糙度<1μm),可使锆石δ^(18)O单点内部精度优于0.15‰(1σ),外部精度优于0.5‰(95%的置信区);碳酸盐矿物δ^(18)O单点内部精度优于0.20‰(1σ),外部精度优于0.6‰(95%的置信区)。; 龙涛石坚包泽民Stephen W.J.Chement张玉海田地刘敦一; 关键词：氧同位素分析

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石坚