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沈华

作品数：22 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 14篇专利
  • 7篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 6篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 7篇神经网
  • 7篇神经网络
  • 6篇网络
  • 4篇映射
  • 4篇芯片
  • 4篇基因
  • 4篇光电
  • 4篇光电转换
  • 4篇光电转换器
  • 4篇光学
  • 4篇光学计算
  • 4篇光学神经网络
  • 4篇处理器
  • 3篇曙光5000
  • 3篇集合通信
  • 3篇交换芯片
  • 2篇调制
  • 2篇端口
  • 2篇多芯片
  • 2篇信号

机构

  • 22篇中国科学院
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 22篇沈华
  • 14篇孙凝晖
  • 12篇谭光明
  • 9篇元国军
  • 9篇张佩珩
  • 8篇杨佳
  • 8篇游定山
  • 6篇刘力轲
  • 3篇曹政
  • 2篇解利伟
  • 2篇安学军
  • 1篇邵恩

传媒

  • 2篇第十五届计算...
  • 1篇高技术通讯
  • 1篇第十二届计算...

年份

  • 1篇2022
  • 5篇2021
  • 1篇2020
  • 5篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2013
  • 6篇2011
  • 1篇2008
共 22 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
减少光器件数量的光神经网络芯片构建方法及系统
本发明提出一种减少光器件数量的光神经网络芯片构建方法和系统，通过芯片结构与训练方法协同的方法，通过低秩近似压缩光芯片中冗余光器件的数量，同时基于若干的优化手段，保证神经网络的识别准确率。本发明所提出的减少光器件数量的光神...
陆则朴臧大伟沈华戴梦溪谭光明孙凝晖
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集合通信芯片物理设计阶段的验证方法
本文讨论应用于高性能计算系统中的集合通信芯片物理设计阶段的验证方法,分别论述了可应用于芯片物理设计阶段的逻辑功能仿真和形式化验证两种方式的实施条件和方案,并在仿真验证中加入对边角情况及时序信息的检查,以此提高仿真方式的验...
刘力轲游定山杨佳元国军沈华
关键词：物理设计仿真验证形式化验证
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一种光神经元结构和包含该结构的神经网络处理系统
本发明提供一种光神经元结构和包含该结构的神经网络处理系统。该神经元结构包括突触输入调制模块、突触权值调制模块、光线聚合模块和光强度探测模块，其中，突触输入调制模块用于接收光信号并在与输入神经元关联的电信号的控制下执行光路...
臧大伟陈灿刘元卿沈华谭光明张佩珩孙凝晖
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一种光学神经网络处理器及其训练方法
本发明提供一种光学神经网络处理器及其训练方法。所述处理器，包括：数值映射装置，用于实现一个数值与可由光神经元表示的正整数域内的数值之间的映射；包括光神经元的光学计算装置，用于根据由光神经元表示的正整数域内的输入值与权值执...
马恬煜臧大伟刘伯然沈华谭光明张佩珩孙凝晖
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一种基板多芯片集成的大端口互连类芯片及实现方法
本发明提出基于多层布线基板多芯片集成的大端口互连类芯片互连构建与物理实现方法，提出适用于基板集成的多芯片互连结构与构建方法、多芯片布局、基板引脚阵列划分与分配、高速差分信号对引脚对分配、基板布线的有效分区与划分方法与相应...
沈华曹政孙凝晖张佩珩元国军安学军游定山杨佳解利伟
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一种用于基因相似性分析的加速装置、方法和计算机设备
本发明实施例提供了一种用于基因相似性分析的加速装置、方法和计算机设备，该加速装置包括高速通信接口，用于与主机通信，接收主机分发的待加速处理的任务；序列缓存模块，用于缓存来自主机的一个或者多个任务，每个任务包含待进行基因相...
陈灿臧大伟沈华谭光明孙凝晖
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一种基板多芯片集成的大端口互连类芯片及实现方法
本发明提出基于多层布线基板多芯片集成的大端口互连类芯片互连构建与物理实现方法，提出适用于基板集成的多芯片互连结构与构建方法、多芯片布局、基板引脚阵列划分与分配、高速差分信号对引脚对分配、基板布线的有效分区与划分方法与相应...
沈华曹政孙凝晖张佩珩元国军安学军游定山杨佳解利伟
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一种用于基因相似性分析的加速装置、方法和计算机设备
本发明实施例提供了一种用于基因相似性分析的加速装置、方法和计算机设备，该加速装置包括高速通信接口，用于与主机通信，接收主机分发的待加速处理的任务；序列缓存模块，用于缓存来自主机的一个或者多个任务，每个任务包含待进行基因相...
陈灿臧大伟沈华谭光明孙凝晖
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曙光5000交换芯片的故障覆盖率分析与改善
杨佳刘力轲游定山元国军沈华
曙光5000交换芯片的故障覆盖率分析与改善
随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路测试的地位正变得日益显著,成为贯穿于集成电路设计、制造、生产中保证芯片质量的重要环节。而故障覆盖率的高低直接决定着测试质量的好坏。本文结合曙光5000交换芯片,介绍了几种常用的...
杨佳刘力轲游定山元国军沈华
关键词：扫描测试
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