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彭睿

作品数:9 被引量:1H指数:1
供职机构:哈尔滨工业大学更多>>
相关领域:自动化与计算机技术一般工业技术金属学及工艺电子电信更多>>

文献类型

  • 8篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇激光
  • 5篇激光清洗
  • 4篇电路
  • 4篇蚁群
  • 4篇蚁群优化
  • 4篇蚁群优化算法
  • 4篇优化算法
  • 4篇激光加工
  • 4篇激光毛化
  • 3篇贪婪算法
  • 2篇通路
  • 2篇组件
  • 2篇空间复杂度
  • 2篇激光器
  • 2篇集成电路
  • 2篇工件
  • 2篇工件表面
  • 2篇分光
  • 2篇分析电路
  • 2篇复杂度

机构

  • 9篇哈尔滨工业大...
  • 1篇中国航发沈阳...

作者

  • 9篇彭睿
  • 4篇田泽
  • 4篇俞洋
  • 4篇陈修远
  • 4篇孙浩然
  • 2篇彭宇
  • 2篇陈彦宾
  • 2篇陈曦
  • 2篇彭喜元
  • 2篇王俊杰

传媒

  • 1篇钛工业进展

年份

  • 3篇2021
  • 2篇2019
  • 2篇2017
  • 2篇2015
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法
基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法,涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本...
俞洋彭宇陈修远彭睿
文献传递
一种激光清洗-毛化复合加工方法
一种激光清洗‑毛化复合加工方法,它涉及一种加工方法,本发明的目的是为了解决激光清洗后需要进行激光毛化加工或激光毛化前需要进行激光清洗加工制造的材料的表面质量差、加工效率低、运行成本高的问题,本发明可以改造现有的激光枪头,...
雷正龙彭睿王俊杰田泽孙浩然陈彦宾陈曦吴世博
文献传递
能量输入对TC4钛合金纳秒脉冲激光清洗质量的影响被引量:1
2021年
采用不同功率和脉宽的纳秒脉冲激光,对TC4钛合金表面氧化层(厚度约25μm)进行了激光清洗试验研究,分析了激光能量输入对清洗后表面形貌、粗糙度以及氧化层去除厚度的影响。结果表明:在激光功率300 W、脉宽60 ns条件下能获得较好的清洗效果,且基材未受到明显损伤。相同脉宽下氧化层去除厚度随激光功率的增大而增加,相同激光功率下去除厚度随脉宽的增大先增大后减小。相同脉宽下表面粗糙度随激光功率的增大先减小后增大,在脉宽60 ns、功率300 W条件下粗糙度最小。清洗后的TC4钛合金表面存在纳米级微裂纹,增加脉宽可以有效抑制微裂纹产生。
杨烁宋文清雷正龙冯俊华李凯彭睿
关键词:激光清洗TC4钛合金氧化层
基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法
基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选...
俞洋彭喜元陈修远彭睿
一种激光清洗-毛化复合加工头
一种激光清洗‑毛化复合加工头,它涉及激光领域,本发明要解决激光清洗后需要进行激光毛化加工或激光毛化前需要进行激光清洗加工制造的材料的表面质量差、加工效率低以及运行成本高的问题,它包括括激光接口、准直镜组件、振镜组件、反射...
彭睿雷正龙田泽孙浩然黎炳蔚
文献传递
一种激光清洗-毛化复合加工方法
一种激光清洗‑毛化复合加工方法,它涉及一种加工方法,本发明的目的是为了解决激光清洗后需要进行激光毛化加工或激光毛化前需要进行激光清洗加工制造的材料的表面质量差、加工效率低、运行成本高的问题,本发明可以改造现有的激光枪头,...
雷正龙彭睿王俊杰田泽孙浩然陈彦宾陈曦吴世博
基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法
基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选择方法,涉及一种小时延缺陷的测试路径选择方法。它为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间长、速度慢的问题。本发明所述的基于蚁群优化算法的小时延缺陷测试关键路径选...
俞洋彭喜元陈修远彭睿
文献传递
一种激光清洗-毛化复合加工头
一种激光清洗‑毛化复合加工头,它涉及激光领域,本发明要解决激光清洗后需要进行激光毛化加工或激光毛化前需要进行激光清洗加工制造的材料的表面质量差、加工效率低以及运行成本高的问题,它包括括激光接口、准直镜组件、振镜组件、反射...
彭睿雷正龙田泽孙浩然黎炳蔚
文献传递
基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法
基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法,涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本...
俞洋彭宇陈修远彭睿
共1页<1>
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