您的位置: 专家智库 > >

彭智聪

作品数:10 被引量:5H指数:1
供职机构:中国科学院微电子研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 6篇专利
  • 4篇期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 4篇电路
  • 3篇调制
  • 2篇电路设计
  • 2篇电路设计方法
  • 2篇调制器
  • 2篇端口
  • 2篇信噪比
  • 2篇用户
  • 2篇用户配置
  • 2篇用户配置文件
  • 2篇扫描链
  • 2篇设计环境
  • 2篇输出信号
  • 2篇输入端
  • 2篇输入端口
  • 2篇数字集成电路
  • 2篇数字集成电路...
  • 2篇卸载
  • 2篇逻辑电路
  • 2篇内存

机构

  • 9篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学院

作者

  • 10篇彭智聪
  • 9篇陈岚
  • 7篇冯燕
  • 2篇赵新超
  • 1篇王东
  • 1篇陈岚
  • 1篇马娟
  • 1篇冯燕

传媒

  • 3篇微电子学与计...
  • 1篇电子技术应用

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2020
  • 1篇2019
  • 3篇2017
  • 1篇2016
  • 3篇2015
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种基于测试壳的IP核测试方法
本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法,从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI和初级输入PI,根据测试指令,通过测试壳输入端口装载将SI测试数据装载到IP核的扫描链,将PI测试数据通过测试壳的WBR单元施加到IP核...
冯燕陈岚彭智聪
文献传递
基于存储器的片内△∑模拟激励生成方法中比特流的选择方法
本发明实施例公开了一种基于存储器的片内Δ∑模拟激励生成方法中比特流的选择方法,包括:步骤1:根据待测ADC所需要的测试激励,确定输入波形;步骤2:根据输入波形的参数,确定调制器模型的参数,建立调制器模型;步骤3:根据调制...
彭智聪陈岚冯燕
文献传递
一种可配置的数字集成电路设计方法
本发明涉及一种可配置的数字集成电路设计方法,属于集成电路设计领域,方法包括:进行设计环境配置,导入库文件、工艺文件、设计数据和用户配置文件;产生流程脚本,根据用户配置文件建立设计流程;按照所述流程脚本,调用EDA工具,运...
彭智聪陈岚周崟灏
文献传递
基于IEEE 802.3标准的MAC在不同视角的事务级建模研究被引量:1
2017年
以基于IEEE 802.3协议的媒体访问控制层(MAC)为研究对象,讨论了事务级建模的方法.基于SystemC和TLM 2.0协议,建立了MAC在程序员视角(PV)和验证视角(VV)的模型,并进行了验证.通过分析MAC发送帧和接收帧的过程,对比了不同视角事物级模型的建模精度和仿真速度.
彭智聪陈岚冯燕马娟
关键词:事务级建模MACSYSTEMCTLM
基于混合原型平台的UARTIP核设计与验证被引量:4
2015年
传统的软硬件设计方法已无法满足So C快速验证的应用需求。针对此现状,阐述了虚拟平台与硬件平台相结合的混合原型验证技术,主要介绍了UART IP混合验证方案,分析了UART IP核协议、功能模块设计以及FPGA平台搭建,最后通过构建虚拟平台和编写测试脚本,对IP核进行混合原型验证。验证结果表明,该IP核复用性好,完全可以应用于So C设计中。
赵新超陈岚冯燕彭智聪
关键词:UART
一种基于测试壳的IP核测试方法
本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法,从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI和初级输入PI,根据测试指令,通过测试壳输入端口装载将SI测试数据装载到IP核的扫描链,将PI测试数据通过测试壳的WBR单元施加到IP核...
冯燕陈岚彭智聪
文献传递
基于存储器的片内△∑模拟激励生成方法中比特流的选择方法
本发明实施例公开了一种基于存储器的片内Δ∑模拟激励生成方法中比特流的选择方法,包括:步骤1:根据待测ADC所需要的测试激励,确定输入波形;步骤2:根据输入波形的参数,确定调制器模型的参数,建立调制器模型;步骤3:根据调制...
彭智聪陈岚冯燕
一种可配置的数字集成电路设计方法
本发明涉及一种可配置的数字集成电路设计方法,属于集成电路设计领域,方法包括:进行设计环境配置,导入库文件、工艺文件、设计数据和用户配置文件;产生流程脚本,根据用户配置文件建立设计流程;按照所述流程脚本,调用EDA工具,运...
彭智聪陈岚周崟灏
基于IEEE 1500标准的IP核测试壳的设计与验证
2016年
IEEE 1500标准对测试壳行为和芯核测试语言进行规定,可有效解决嵌入式IP核测试复用的问题.研究了IEEE 1500标准的测试机制,以ISCAS’89Benchmark S349电路为例,详细设计了符合IEEE 1500标准的测试壳,并对测试壳的全部测试模式进行验证.结果表明,测试壳电路在所有指令下正确有效.实现了测试壳自动生成工具,经Benchmark电路验证,工具能正确生成符合IEEE 1500标准的测试壳电路.
冯燕陈岚王东赵新超彭智聪
关键词:IEEESOC测试自动生成
基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法
2015年
针对模拟混合信号ADC的内建自测试,研究了基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法,着重对该方法软件部分的实现进行了阐述.通过设计Sigma-Delta调制器,并对输出的比特流特性进行分析,提出了满足信噪比要求的最短比特流长度选择方法,以及在该长度下的比特流序列优化方法.以12位待测ADC为例,采用该方法生成了最优比特流序列,满足了信噪比的设计要求,验证了方法的可行性.
彭智聪陈岚冯燕柳臻朝
关键词:内建自测试
共1页<1>
聚类工具0