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周涛

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：北京时代民芯科技有限公司更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 4篇电路
  • 3篇芯片
  • 2篇电路制造
  • 2篇圆片
  • 2篇蛇形
  • 2篇向量
  • 2篇集成电路
  • 2篇集成电路制造
  • 2篇集成电路制造...
  • 2篇故障点
  • 2篇分布密度
  • 2篇分布图
  • 2篇FPGA芯片
  • 2篇测试向量
  • 1篇单管
  • 1篇电压钳
  • 1篇异或
  • 1篇时序逻辑电路
  • 1篇通路
  • 1篇组合逻辑

机构

  • 6篇北京时代民芯...
  • 3篇中国航天北京...

作者

  • 6篇周涛
  • 3篇张彦龙
  • 3篇张帆
  • 3篇陈雷
  • 3篇文治平
  • 3篇刘增容
  • 3篇杜忠
  • 3篇储鹏
  • 3篇李学武

年份

  • 1篇2020
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 3篇2007
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
一种基于栅氧击穿型反熔丝存储阵列的编程系统及方法
一种基于栅氧击穿型反熔丝存储阵列的编程系统及方法，通过包括编程控制模块、数据存储模块、反熔丝单元编程模块、数据判断模块的编程系统，采用对原始数据进行写入并对编程后数据进行判断的方法，检验首次编程成功率并对失败部分进行标记...
周涛张晓晨李建成陆时进马浩査启超谢俊玲
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四次配置完成FPGA互连资源的测试方法
一种四次配置完成FPGA互连资源的测试方法，其特点在于：将开关矩阵按连接方向划分为水平、垂直、左斜和右斜四种，每次配置针对一个连接方向设计测试电路，将各个开关矩阵级连成蛇形测试通路，对每个通路同时施加走步－1测试向量。本...
文治平周涛杜忠陈雷李学武张帆刘增容张彦龙储鹏
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五次配置完成FPGA可配置逻辑块的测试方法
一种五次配置完成FPGA可配置逻辑块的测试方法，其特点在于：将FPGA可配置逻辑块的时序逻辑电路和组合逻辑电路结合起来测试，通过优化安排测试资源，交叉使用同或、异或等函数和穷举法的测试向量，减少了测试配置次数；本发明中使...
文治平周涛杜忠陈雷李学武张帆刘增容张彦龙储鹏
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消除NMOS单管传输形成静态短路电流的电路
消除NMOS单管传输形成静态短路电流的电路，包括：NMOS传输管与CMOS缓冲器电路，CMOS缓冲器电路包括两个CMOS反向器电路，有一电压钳位电路耦接在第一CMOS反向器电路的主电流路径和电源端之间，有一反馈回路跨接在...
文治平李学武陈雷周涛张帆杜忠刘增容张彦龙储鹏
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一种利用FPGA芯片进行集成电路制造工艺缺陷检测的方法
一种利用FPGA芯片进行集成电路制造工艺缺陷检测的方法，包括如下步骤：(1)对FPGA芯片的配置存储器进行回读测试，获得配置存储器的测试数据；(2)检测测试数据，获得发生故障的配置存储器的坐标信息；(3)根据故障坐标信息...
周涛张帆王岚施陈雷李学武张彦龙刘增荣王思聪
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一种利用FPGA芯片进行集成电路制造工艺缺陷检测的方法
一种利用FPGA芯片进行集成电路制造工艺缺陷检测的方法，包括如下步骤：(1)对FPGA芯片的配置存储器进行回读测试，获得配置存储器的测试数据；(2)检测测试数据，获得发生故障的配置存储器的坐标信息；(3)根据故障坐标信息...
周涛张帆王岚施陈雷李学武张彦龙刘增荣王思聪
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