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MCP输入增强膜对像增强器主要性能的影响研究被引量：4: 2020年; MCP是一种超快响应的电子倍增器,在像增强器和光电倍增管中有广泛应用。本文首先介绍了MCP输入增强膜原理,之后利用真空镀膜方法在MCP的输入端镀制了一层具有高二次电子发射系数的膜层,并通过面电阻、XPS表征了膜层特性。通过试验,对比测量了镀膜MCP和常规MCP像增强器的信噪比、MCP增益以及像增强器分辨力,测量结果表明,镀膜MCP像增强器的信噪比、MCP增益较常规MCP像增强器的信噪比、MCP增益均有提高,但像增强器分辨力有所下降。常规MCP像增强器的信噪比平均为25.27、MCP增益平均为209.5、像增强器分辨力平均为61 lp/mm,而镀膜MCP像增强器的信噪比平均为29.53、MCP增益平均为450.5、像增强器分辨力平均为54.75 lp/mm。镀膜MCP像增强器信噪比和MCP增益提高的原因是MCP输入端镀膜以后,表面二次电子发射系数提高。另外由于MCP输入端表面二次电子发射系数提高,导致镀膜MCP输入端表面散射电子数量的增加,使得镀膜MCP像增强器分辨力有所下降。; 曾进能李廷涛常乐龚燕妮赵伟林赵恒张俊褚祝军李顺平李晓峰; 关键词：像增强器微通道板分辨力二次电子

一种用于微光像增强器自动测试的暗箱系统: 本发明涉及一种用于微光像增强器自动测试的暗箱系统，由安装桌面、垂直光路暗箱组件、暗箱底板组件、升降台组件、测试外壳组件以及电源触钉组件组成，暗箱底板组件和测试外壳组件位于垂直光路暗箱组件内部；垂直光路暗箱组件沿中轴设置有...; 朱世聪王俊李金沙李顺平刘峰阁董煜辉郑林涛曾进能

阴极面板表面等离子清洗技术研究: 2013年; 多碱光电阴极Na2KSb（Cs）膜层的生长质量及阴极灵敏度与其阴极面板的表面活性、清洁度等紧密相关。阴极面板的传统清洗方法是利用酒石酸溶液进行浸泡并超声清洗，其清洗效率低、浪费资源、污染环境。在接触、了解了等离子清洗技术后，提出了一种利用等离子清洗的方法对阴极面板进行表面处理。试验结果表明，该清洗方法具有处理效率高、成本低、对环境无污染、提高阴极面板表面活性等优点。; 李廷涛周善堃唐钦何开远陆胜林李顺平; 关键词：多碱光电阴极等离子清洗表面活性

一种微光像增强器模拟装配下的温变应力失效试验装置: 本实用新型公开了一种微光像增强器模拟装配下的温变应力失效试验装置，该装置包括后壳体、前壳体、上盖、螺钉、透光孔、观察孔、柱面应力传感器、端面应力传感器、应力读出装置和扭力扳手组成。所述后壳体、前壳体为匹配像增强器尺寸安装...; 朱世聪王光凡李亚情李金沙李顺平褚祝军朱文锦; 文献传递

对微光像增强器像管的光反馈特性进行测试的装置及方法: 本发明公开了一种对微光像增强器像管的光反馈特性进行测试的装置及方法，该装置包括光源、中性滤光片盒、可调孔径光阑、积分球、照度计、对比度测试靶板、共轭投影镜头组件、像管、工业相机、像管高压电源、计算机及测试暗箱。该方法通过...; 宋奇庚李金沙唐钦李磊许有毅许灵吉朱航胡桃陈坤杨李顺平

一种像增强器光晕检测装置: 本实用新型公开了一种像增强器光晕检测装置，包括光源模块、测试暗箱、图像采集模块和机械结构模块，光源模块、测试暗箱、图像采集模块中的显微镜头和CCD摄像机依次放置于机械结构模块中的光学导轨上，并由对应的支架支承，且所述光源...; 曾进能王玲燕刘倍宏须恃瑜董煜辉李顺平李永春李荣喜李金沙

一种数字化像增强器暗计数测试装置、方法及存储介质: 本发明公开了一种数字化像增强器暗计数测试装置、方法及存储介质，装置由光源、光阀、像增强器、CMOS图像传感器、视频采集卡及计算机组成，光源、光阀、像增强器和CMOS图像传感器沿着光路依次设置，像增强器和CMOS图像传感器...; 常乐杨玺文龚燕妮高海鹏李顺平须恃瑜胡啟旭张何丽; 文献传递

EBAPS器件测试用调焦镜头夹具测试装置: 本申请公开了一种EBAPS器件测试用调焦镜头夹具测试装置，包括：接口、压片、机芯模块、镜头、处理器、分辨力靶板；接口包括：框体和调焦筒；待测试EBAPS器件容纳设置于框体内；框体的另一端面上设置调焦筒；镜头与调焦筒螺纹连...; 张新李俊祺刘震赵希炜庞红丽杨士奇李娇娇李东泽张春先周凯超李顺平褚祝军宋林伟

一种微光像增强器信噪比和光晕自动测试系统及测试方法: 本发明涉及一种微光像增强器信噪比和光晕自动测试系统及测试方法，系统包括光源模块、电动针孔转轮、投影镜头、程控暗箱、成像镜头、探测模块、三维移动滑台、XY电动平移台、三维移动机构、光源系统暗箱、自动扫码枪、电动挡板、工控机...; 朱世聪李金沙王俊马怀超王强李顺平

一种用于微光像增强器自动测试的暗箱系统: 本发明涉及一种用于微光像增强器自动测试的暗箱系统，由安装桌面、垂直光路暗箱组件、暗箱底板组件、升降台组件、测试外壳组件以及电源触钉组件组成，暗箱底板组件和测试外壳组件位于垂直光路暗箱组件内部；垂直光路暗箱组件沿中轴设置有...; 朱世聪王俊李金沙李顺平刘峰阁董煜辉郑林涛曾进能; 文献传递

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李顺平