生晓坤
- 作品数：6 被引量：28H指数：3
- 供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现被引量：7
- 2013年
- 作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
- 蒋常斌生晓坤李杰宋泽明
- 关键词：ATEARMCORTEX-M3IC测试
- SoC芯片内嵌模数转换器的验证测试被引量：3
- 2011年
- 如何对系统芯片(SoC)中内嵌的模数转换器进行验证测试,是集成电路测试技术研究的重点和难点之一。对一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码芯片中内嵌模数转换器的测试方法进行了研究,在分析芯片功能和引脚的基础上,列出了具体的测试夹具开发方案和电路引线图,针对内嵌式ADC的特点,给出了测试向量中测试矢量的时序关系,根据时序关系编写了测试向量,基于以上基础,完成了内嵌式ADC的测量,并总结了测量内嵌式ADC时需要注意的问题。
- 姜岩峰张东生晓坤
- 关键词：系统芯片测试向量
- 面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法
- 本发明公开了一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法。该方法针对CPLD需要先编程开发才能使用的特点，将CPLD的编程与测试统一起来，由ATE实现CPLD的批量测试。用CPLD开发软件得到针对故障模型的JTAG编程文件及...
- 郭士瑞冯建科张东高剑蒋常斌李瑞麟李杰于明生晓坤
- 文献传递
- 面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法
- 本发明公开了一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法。该方法针对CPLD需要先编程开发才能使用的特点，将CPLD的编程与测试统一起来，由ATE实现CPLD的批量测试。用CPLD开发软件得到针对故障模型的JTAG编程文件及...
- 郭士瑞冯建科张东高剑蒋常斌李瑞麟李杰于明生晓坤
- RFID中天线的优化设计被引量：12
- 2011年
- RFID(射频识别)芯片可在某些自动控制系统中用于信号的接收与检测,其中天线的集成设计关系到整个系统的体积及性能,因此,天线的集成化设计成为RFID技术研究的一个重点。本文首先用集总参数模型对片上天线进行建模,并采用标准CMOS工艺设计天线,而且用IE3D电磁仿真工具对其进行仿真,验证了片上天线的可行性及实用性,最后讨论了片上天线的优化设计和改进工艺对天线性能的有效提高。
- 张东姜岩峰生晓坤
- 关键词：自动控制片上天线电磁仿真优化设计
- ARM Cortex-M3微处理器测试方法被引量：7
- 2013年
- 作为32位RISC微处理器主流芯片，ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex—M3的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
- 蒋常斌生晓坤李杰宋泽明
- 关键词：ATEARMCORTEX-M3IC测试
