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文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 2篇信号
  • 2篇适配
  • 2篇适配器
  • 2篇通用适配器
  • 2篇切换
  • 2篇切换控制
  • 2篇光耦
  • 2篇测光
  • 2篇测试信号
  • 1篇底盘
  • 1篇堆叠
  • 1篇元件
  • 1篇密封
  • 1篇密封性
  • 1篇密封性检测
  • 1篇盖板

机构

  • 3篇中国航天科工...

作者

  • 3篇武红
  • 2篇程婷婷
  • 2篇郝云红
  • 1篇李凯
  • 1篇赵鹏
  • 1篇常成

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2015
  • 1篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种密封性检测工具
本实用新型公开了一种密封性检测工具,包括依次设置的底盘、加压盘和盖板;所述底盘、所述加压盘和所述盖板之间可拆卸地固定;所述底盘和所述加压盘内平行地设置多个加压槽,所述底盘和加压盘底部和侧面设置多个加压孔。该工具能够满足元...
李凯武红常成赵鹏
文献传递
一种用于测试光耦的通用适配器
本发明公开了一种用于测试光耦的通用适配器,其特征在于,包括:与测试系统连接的第一适配器子板,包括切换控制电路,用于针对不同类型的被测光耦切换不同测试信号;与第一适配器子板连接的第二适配器子板,包括被测光耦测试所需的外围电...
程婷婷郝云红武红闫兴亮
文献传递
一种用于测试光耦的通用适配器
本发明公开了一种用于测试光耦的通用适配器,其特征在于,包括:与测试系统连接的第一适配器子板,包括切换控制电路,用于针对不同类型的被测光耦切换不同测试信号;与第一适配器子板连接的第二适配器子板,包括被测光耦测试所需的外围电...
程婷婷郝云红武红闫兴亮
文献传递
共1页<1>
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