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王永顺

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇电流
  • 2篇电流补偿
  • 2篇电路
  • 2篇谱方法
  • 2篇陷阱电荷
  • 2篇测量系统
  • 2篇测试电路
  • 2篇弛豫

机构

  • 2篇北京大学

作者

  • 2篇许铭真
  • 2篇谭长华
  • 2篇刘晓卫
  • 2篇张晖
  • 2篇王阳元
  • 2篇王永顺

年份

  • 2篇1992
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
陷阱电荷弛豫谱方法及其测量系统
本发明属半导体测量技术，具体地说，就是涉及MOS系统中绝缘层陷阱电荷的检测技术。陷阱电荷弛豫谱方法及其测量系统(TCRS)采用一种新的差值取样技术和高分辨率的共模输入电流补偿测试电路，首次解决了绝缘层陷阱参数的直接测量和...
谭长华许铭真王阳元张晖刘晓卫王永顺
陷阱电荷弛豫谱方法及其测量系统
本发明属半导体测量技术，具体地说，就是涉及MOS系统中绝缘层陷阱电荷的检测技术。陷阱电荷弛豫谱方法及其测量系统(TCRS)采用一种新的差值取样技术和高分辨率的共模输入电流补偿测试电路，首次解决了绝缘层陷阱参数的直接测量和...
谭长华许铭真王阳元张晖刘晓卫王永顺
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