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董一兵

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:北京航空航天大学更多>>

文献类型

  • 1篇中文专利

主题

  • 1篇失效模式
  • 1篇失效物理
  • 1篇随机化
  • 1篇物理理论
  • 1篇物理模型
  • 1篇机化
  • 1篇MOS器件

机构

  • 1篇北京航空航天...

作者

  • 1篇付桂翠
  • 1篇万博
  • 1篇董一兵
  • 1篇赵幼虎

年份

  • 1篇2014
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法
本发明涉及一种基于失效物理的MOS器件可靠性仿真评价方法,包括以下步骤:步骤一:采集MOS器件相关参数;步骤二:进行失效模式、机理及影响分析;步骤三:建立CFD、FEA和故障预计模型;步骤四:开展温度、振动、电特性仿真分...
付桂翠赵幼虎万博董一兵
文献传递
共1页<1>
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