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杨杰

作品数:18 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院光电技术研究所更多>>
相关领域:文化科学交通运输工程建筑科学自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 18篇中文专利

领域

  • 5篇文化科学
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇建筑科学
  • 1篇交通运输工程

主题

  • 8篇激光跟踪
  • 7篇激光跟踪仪
  • 4篇工件台
  • 4篇光学
  • 4篇测头
  • 3篇气浮
  • 3篇面形
  • 3篇激光
  • 3篇光学元件
  • 3篇非接触
  • 3篇测量问题
  • 2篇电机
  • 2篇电机驱动
  • 2篇电机驱动器
  • 2篇形位
  • 2篇形位误差
  • 2篇形位误差测量
  • 2篇偏心
  • 2篇偏心误差
  • 2篇平面度

机构

  • 18篇中国科学院

作者

  • 18篇杨杰
  • 6篇李杰
  • 6篇陈林
  • 4篇曹学东
  • 3篇杨帆
  • 3篇严伟
  • 3篇胡松
  • 3篇邓钦元
  • 3篇周毅
  • 3篇胡琦
  • 3篇李凡星
  • 3篇田鹏
  • 2篇匡龙
  • 2篇景洪伟
  • 2篇吴时彬
  • 2篇朱文
  • 2篇高明星
  • 1篇杜婧

年份

  • 3篇2023
  • 4篇2022
  • 2篇2021
  • 2篇2020
  • 1篇2018
  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 2篇2014
18 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种大尺寸平面度的在位测量方法
本发明提供一种大尺寸平面度的在位测量方法,包括步骤如下:在被测平面附近布置两站激光跟踪仪,且两站激光跟踪仪之间相对被测平面具有一高度差;对两站激光跟踪仪的系统误差进行自校准;将两站激光跟踪仪位于被测平面附近不同的两位置,...
李杰吴时彬曹学东朱文杨杰
一种空间十字导轨正交性的检测与调试方法
本发明公开了一种空间十字导轨正交性的检测与调试方法,本发明是借助激光跟踪仪首先测量基准面建立坐标系,测量A、B导轨并调试导轨的直线度与基准面平行;然后利用激光跟踪仪测量A、B导轨运动范围内的空间坐标点拟合XY平面,移动A...
杨杰胡琦罗平陈希瑞
摆臂式轮廓仪测头系统空间位置坐标关系的测量装置和方法
本发明公开了一种摆臂式轮廓仪测头系统空间位置坐标关系的测量装置和方法,该装置摆臂式轮廓仪测头系统包括接触式传感器夹具、接触式传感器、第一靶球和第二靶球,多功能测量显微镜包括多功能测量显微镜立柱头、多功能测量显微镜立柱和多...
陈林曹学东景洪伟匡龙杨杰高明星
文献传递
一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法
本发明公开了一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法,采用气浮靶标作为激光跟踪仪测量合作靶标测量光学元件表面;通过对气浮靶标供气,使气浮面微孔输出稳定的高压气流,在气浮面与光学元件表面形成固定大小的气隙层,...
杨杰李杰陈林
文献传递
一种数字同轴全息显微三维工件台控制系统
本发明公开了一种数字同轴全息显微三维工件台控制系统,三维工件台控制结构由X轴电机(1)、X轴光栅尺(4)、X轴限位开关(7)、Y轴电机(2)、Y轴光栅尺(5)、Y轴限位开关(8)、Z轴电机(3)、Z轴光栅尺(6)和Z轴限...
田鹏杜津杨杰杨帆严伟胡松周毅李凡星姚靖威邓钦元
文献传递
一种大尺寸平面度的在位测量方法
本发明提供一种大尺寸平面度的在位测量方法,包括步骤如下:在被测平面附近布置两站激光跟踪仪,且两站激光跟踪仪之间相对被测平面具有一高度差;对两站激光跟踪仪的系统误差进行自校准;将两站激光跟踪仪位于被测平面附近不同的两位置,...
李杰吴时彬曹学东朱文杨杰
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一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法
本发明公开了一种基于激光跟踪仪非接触式测量大口径光学元件面形的方法,采用气浮靶标作为激光跟踪仪测量合作靶标测量光学元件表面;通过对气浮靶标供气,使气浮面微孔输出稳定的高压气流,在气浮面与光学元件表面形成固定大小的气隙层,...
杨杰李杰陈林
文献传递
一种数字同轴全息显微三维工件台控制系统
本发明公开了一种数字同轴全息显微三维工件台控制系统,三维工件台控制结构由X轴电机(1)、X轴光栅尺(4)、X轴限位开关(7)、Y轴电机(2)、Y轴光栅尺(5)、Y轴限位开关(8)、Z轴电机(3)、Z轴光栅尺(6)和Z轴限...
田鹏杜津杨杰杨帆严伟胡松周毅李凡星姚靖威邓钦元
水平仪结合气浮桥板非接触测量平板面形误差的装置和方法
本发明涉及一种水平仪结合气浮桥板非接触测量平板面形的装置和方法,其中,采用可调气浮桥板作为水平仪的辅助工具测量平板面形误差;首先对气浮桥板输入固定大小气压,使气浮模块工作表面输出稳定的高压气流浮动于被测表面上,然后采用标...
杨杰胡琦罗平张奥陈希瑞
一种厚度一致性检测装置
本发明公开了一种厚度一致性检测装置,包括:光谱共焦位移传感器、传感器调整单元、工件转台、悬臂转台、悬臂转台调整单元、工件台、悬臂、配重、主控制器组成。本发明检测装置可用于大口径、高精度材料厚度一致性的测量和分析。本发明结...
李杰陈林杨杰乔丽
文献传递
共2页<12>
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