您的位置: 专家智库 > >

王文峰

作品数:2 被引量:7H指数:1
供职机构:工业和信息化部电子工业标准化研究院更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术机械工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇机械工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇校准
  • 1篇定标
  • 1篇短路
  • 1篇功率器件
  • 1篇固态微波
  • 1篇测试夹具

机构

  • 1篇北京理工大学
  • 1篇工业和信息化...
  • 1篇工业和信息化...

作者

  • 2篇殷玉喆
  • 2篇阚劲松
  • 2篇王文峰
  • 1篇项道才
  • 1篇王文娟
  • 1篇张继平

传媒

  • 1篇微波学报
  • 1篇计测技术

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
40GHz陶瓷衬底SOLT校准片研制与定标技术研究被引量:6
2014年
在片测试系统在微波单片集成电路MMIC的设计建模及生产检验中有着必不可少的作用。由于测试参考面从矢网的同轴接口转移到微波探针,因此需要用共面波导校准片校准。设计制作了用于在片测试系统校准的陶瓷衬底的SOLT校准片,并对校准片进行了建模,提取出了1~40GHz频段内片上负载及短路件的等效电阻及寄生电感参量、直通件的延时参量。片上负载的电阻分量约为45Ω,回波损耗在1~30GHz小于-20dB;在30~40GHz小于-10dB。验证了SOLT校准片设计、制作及定标的整个工艺过程的有效性。
殷玉喆仲博涵阚劲松王文峰张继平
关键词:校准
固态功率器件测试技术研究被引量:1
2015年
深入探究和分析固态微波功率器件测试中的影响因素及注意事项,并给出解决问题的措施;采用负载牵引技术及TRL校准技术实现测试系统的阻抗匹配和测试夹具的校准,搭建测试平台,对某款Si C功率晶体管进行测试,测试结果满足技术指标要求,证明测试系统可以有效提取被测器件的真实参数。
王文娟阚劲松项道才王文峰殷玉喆
关键词:测试夹具
共1页<1>
聚类工具0