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郭建平

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：华为技术有限公司更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 3篇电路
  • 3篇发热
  • 3篇自发热
  • 2篇电压
  • 2篇电压调整
  • 2篇调整方法
  • 2篇温度
  • 2篇芯片
  • 2篇晶体管
  • 2篇工作电压
  • 2篇仿真
  • 1篇电路可靠性
  • 1篇电迁移
  • 1篇性能仿真
  • 1篇闪存
  • 1篇闪存存储
  • 1篇闪存存储器
  • 1篇生命周期
  • 1篇自适
  • 1篇自适应

机构

  • 6篇华为技术有限...

作者

  • 6篇郭建平
  • 5篇付一伟
  • 3篇孙永生
  • 2篇王新入
  • 1篇湛灿辉

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 3篇2014
  • 1篇2013
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
检查电路中电迁移的方法和装置
本发明实施例提供一种检查电路中电迁移的方法和装置，该电路包括鳍式场效晶体管，该鳍式场效晶体管与金属互连线连接，该方法包括：确定该鳍式场效晶体管的自发热温度；根据该鳍式场效晶体管的自发热温度，确定该金属互连线的电流密度约束...
孙永生付一伟郭建平
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自适应电压调整方法、芯片以及系统
本发明实施例提供一种自适应电压调整方法、芯片以及系统，该方法包括：在第一电压调整时间，获取芯片中与老化效应相关的状态参数，所述第一电压调整时间为所述芯片设置的多个电压调整时间中的一个；根据所述状态参数，确定与所述第一电压...
郭建平王新入付一伟
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确定电路老化性能的方法和装置
本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置，该方法包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定该电路的...
孙永生郭建平付一伟
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自适应电压调整方法、芯片以及系统
本发明实施例提供一种自适应电压调整方法、芯片以及系统，该方法包括：在第一电压调整时间，获取芯片中与老化效应相关的状态参数，所述第一电压调整时间为所述芯片设置的多个电压调整时间中的一个；根据所述状态参数，确定与所述第一电压...
郭建平王新入付一伟
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闪存存储器工作性能仿真方法和装置
本发明实施例提供一种闪存存储器工作性能仿真方法和装置，其中，该方法包括：根据闪存存储器仿真模型，获取闪存存储器在工作第一时间后的老化后的物理参数，闪存存储器仿真模型包括至少一个闪存存储单元仿真模型，闪存存储单元仿真模型包...
郭建平湛灿辉
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确定电路老化性能的方法和装置
本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置，该方法包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定该电路的...
孙永生郭建平付一伟
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