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文献类型

  • 6篇专利
  • 5篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 10篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇平均寿命
  • 4篇热阻
  • 4篇热阻测试
  • 4篇半导体
  • 4篇半导体器件
  • 4篇LED
  • 4篇测试夹具
  • 3篇白光
  • 2篇点接触
  • 2篇电极
  • 2篇电子科技
  • 2篇调平
  • 2篇荧光粉
  • 2篇云台
  • 2篇照度计
  • 2篇竖直
  • 2篇探头
  • 2篇通信连接
  • 2篇求取
  • 2篇自动调平

机构

  • 16篇中国电子科技...
  • 2篇国家半导体器...
  • 1篇质量检验中心

作者

  • 16篇赵敏
  • 7篇张万生
  • 6篇黄杰
  • 6篇刘东月
  • 2篇茹志芹
  • 1篇徐立生
  • 1篇安国雨

传媒

  • 2篇中国照明
  • 2篇第十二届全国...
  • 1篇无线电工程
  • 1篇现代显示
  • 1篇信息技术与标...
  • 1篇第十一届全国...

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2022
  • 2篇2021
  • 2篇2020
  • 1篇2012
  • 1篇2011
  • 4篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2006
16 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
LED器件的质量评定方法
2012年
本文提出了一种LED器件质量的评定方法,将电光转换效率和光功率保持率引入表征LED器件质量的关键参数;以芯片尺寸和电流密度来规范评定LED器件质量的测试条件;为了剔除早期失效的器件,给出了筛选方法;最后,介绍了与可靠性相关的LED器件耐久性试验。
赵敏张万生
关键词:LED器件耐久性试验
白光LED色温漂移的研究
色温是白光LED色参数的重要指标之一,色温漂移问题一直是白光LED研究的重点。针对白光LED色温漂移问题,参考美国ASSIST和美国能源之星(ENERGY STAR)两家相关色温漂移的失效判据标准,根据荧光粉的光色参数,...
赵敏张万生
关键词:白光LED荧光粉胶体
文献传递
用于求取LED平均寿命的威布尔图估法
随着LED产业的蓬勃发展,其寿命问题也越来越引人关注。威布尔分布是可靠性工程中常用的一种寿命分布,计算简便,估计精度虽有误差,但在可靠性工程中,这种分析精度已经足够了。针对LED的寿命,利用已有的威布尔图估法国家标准,通...
赵敏张万生徐立生
关键词:威布尔分布可靠性
文献传递
用于功率型LED筛选的瞬态热特性
2006年
本文采用NC2993型二极管热阻测试仪对功率LED的热特性进行筛选,文中所用的器件为中国电子科技集团第十三研究所研制的F008型白光功率LED,为便于与红外热像仪进行验证.最后用蓝光倒装芯片未灌封的功零器件给出实验的对比结果。
赵敏张万生
关键词:功率型LED热特性功率LED红外热像仪F008电子科技
白光LED色温漂移的研究
色温是白光LED色参数的重要指标之一,色温漂移问题一直是白光LED研究的重点。针对白光LED色温漂移问题,参考美国ASSIST和美国能源之星(ENERGY STAR)两家相关色温漂移的失效判据标准,根据荧光粉的光色参数,...
赵敏张万生
关键词:白光LED荧光粉胶体
文献传递
道路照度测量装置
本发明提供了一种道路照度测量装置,属于现场照度测量技术领域,包括:移动车体;控制机柜,设于所述移动车体;竖直升降组件,设于所述移动车体,且与所述控制机柜通信连接;水平伸缩组件,所述竖直升降组件相对的两侧分别设有至少一个所...
刘东月张中豪赵敏李长普刘芳赵艳雨赵莉红黄杰
文献传递
SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具
本发明提供了一种SMD封装半导体器件结到壳热阻测试夹具,属于SMD封装半导体器件热阻测试装置技术领域,包括导电底座、压盖、电极座和压紧组件,导电底座下表面与控温平台的上表面贴合,上表面设有用于容纳待测器件的第一容纳槽;第...
刘东月茹志芹张中豪赵敏黄杰
文献传递
热阻测试夹具
本发明提供了一种热阻测试夹具,属于半导体器件结到壳热阻测试技术领域,包括盖板、加压部和驱动部;盖板具有朝向控温台接触面开口的容纳槽,容纳槽用于容纳待测的器件;加压部的一端用于与盖板背离容纳槽的一侧抵接;驱动部用于与控温台...
刘东月张中豪赵敏刘芳黄杰
文献传递
LED组件寿命评估方法的研究
2011年
由于LED技术的飞速发展,其应用产品不断扩大到人们生活的各个方面,因此LED产品的可靠性问题也日益受到人们的关注。在可靠性工程常用的寿命分布中,指数分布是应用广泛的一种分布,进入偶然失效期以后都可以认为产品失效分布是指数分布。LED产品的寿命试验有定时截尾和定数截尾2种方式,由于定数结尾需要较长的试验时间,因此采用定时截尾的试验方法来获取试验数据。给出了LED组件的寿命评估方法,该方法对LED模块和应用产品同样适用。
安国雨赵敏张万生
关键词:平均寿命定时截尾试验
LED加速寿命试验方法的研究被引量:6
2009年
给出了一种缩短试验时间求取LED平均寿命的方法,利用"亚玛卡西"的发光管光功率缓慢退化公式。由退化系数求得不同应力温度下LED失效时间,再用数值解析法得到正常温度应力下的LED平均寿命。
赵敏张万生徐立生
关键词:LED
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