陈永君
- 作品数：21 被引量：138H指数：7
- 供职机构：国家地质实验测试中心更多>>
- 发文基金：国土资源部地质大调查项目国家科技部专项基金国土资源大调查项目更多>>
- 相关领域：理学天文地球机械工程农业科学更多>>
- 一种简便的X射线荧光光谱人工标准的制备方法
- 介绍了一种元素分组的人工标准配制方法,能够满足X射线荧光光谱分析中,扩大痕量元素校准曲线的含量范围、准确计算谱线重叠系数对人工标准样品中干扰校正的需要.给出了人工标准配制的分组组合、基准物质的前处理条件和计算实例.
- 陈永君郑妙子
- 关键词：X射线荧光光谱分析
- 文献传递
- 工业镀层及涂层厚度分析——同位素X射线荧光光谱法被引量：3
- 1998年
- 采用自行研制的同位素Ｘ射线荧光分析仪，测定工业镀层和汽车涂层厚度，分析精度（ＲＳＤ）分别达２０％和３６％，该法具有快速、简便、无损等优点。
- 陈永君邓赛文马天芳任家富
- 关键词：同位素X射线荧光光谱镀层涂层厚度
- 一种简便的X射线荧光光谱人工标准的制备方法
- 介绍了一种元素分组的人工标准配制方法,能够满足X射线荧光光谱分析中,扩大痕量元素校准曲线的含量范围、准确计算谱线重叠系数对人工标准样品中干扰校正的需要.给出了人工标准配制的分组组合、基准物质的前处理条件和计算实例.
- 陈永君郑妙子
- 关键词：X射线荧光分析
- 文献传递
- 少量树木年轮样品的X射线荧光光谱分析被引量：5
- 2006年
- 采用活体采样技术，对少量树木年轮样品的制备和测定方法进行了研究。使用X射线荧光光谱和透空测量方式，对树木年轮中Cl、Si、Na、Al、Mg、P、S、Ca、K、Ti、Mn、Fe、Zn、Cu、Pb、Rb、Sr、Ba等18种元素进行了分析测定，结果与其他方法相符，部分元素的精密度（RSD，n=10）为0．2％～15％。该法效果比较好，同时保证了少量树木年轮样品无损失、无化学组成变化．为后续的等离子体原子发射光谱和质谱联测创造了条件。
- 陈永君王亚平许春雪王苏明樊兴涛
- 关键词：X射线荧光光谱法
- X射线荧光分析制样用的自动成形高温电热熔样炉
- 一种X射线荧光分析制样用的自动成形高温电热熔样炉，由炉体、框架和转动、摆动机构等组成。载样盘安装在转动轴上，其上表面与炉口下底面平齐，能保护加热元件及炉膛免受大的热冲击，并减小开启炉盖后的泄温；由安装在炉底上的旋转马达通...
- 詹秀春陈永君杨啸涛
- 文献传递
- 多元素现场XRF快速分析方法研究
- 陈永君李国会邓赛文郑妙子詹秀春樊守忠潘宴山马天芳
- 采用新型高分辨率的Si-PIN探测器，完成了《Si-PIN便携式X射线荧光分析仪》样机的研制，配备了全功能软件，形成了实用独立的分析系统，申请了实用新型技术专利；软件功能丰富，全中文提示，下拉和弹出菜单操作方式，该技术成...
- 关键词：
- 关键词：SI-PIN探测器X射线荧光分析
- X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘
- 本实用新型所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘，陶瓷载样盘的整体为一圆盘，圆盘的中心设置有轴孔，轴孔与电热熔样炉的转动轴连接；圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。另外陶瓷载样盘由高温陶瓷材料制成的，解决合金制坩埚架的...
- 詹秀春陈永君杨啸涛
- 文献传递
- 便携式X射线荧光分析仪的研制与应用被引量：17
- 2001年
- 采用Si-PIN高分辨率探测器 ,研制了 2 4 0 8道X射线荧光分析仪 ,其体积小、重量轻、携带方便。能量分辨率为 2 0 3eV/MnKα ;稳定性为 5% ( 8h) ;配备了专门的、操作简便的软件系统。在地质和矿物样品分析中进行了应用 ,与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比 。
- 陈永君邓赛文马天芳李蓉华梁国立詹秀春
- 关键词：SI-PIN探测器分辨率X射线荧光光谱法同位素技术指标
- 地质样品中痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定被引量：63
- 2002年
- 报道了粉末压样 -X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明 ,对于不同岩性样品中Br的分析 ,特别是当Br的含量低于 2 μg/g时 ,采用谱峰强度 (未扣除背景 )与背景强度的比进行校准所得到的结果 ,明显优于铑靶线的Compton散射线内标法 ,分析精度 (RSD ,n =6 )为 2 .4%～1 5 .3 % ,大多数优于 1 0 % ;平均值的相对误差低于 2 4 %。对于Cl的分析 ,只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果 ;不同样品中Cl的分析精度 (RSD ,n =6 )为 2 .1 %～ 1 3 .6 % ,大多数优于 5 % ;平均值的相对误差不大于 2 5 % ,多数优于 1 0 %。S的校准曲线的离散性较大 ,矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素 ,其分析精度 (RSD ,n =6 )为 0 .87%～ 5 .6 % ,除个别样品外 ,平均值的相对误差优于 3 6 %。Cl和S均存在分析结果随测量时间 (次数 )的增加而增高的现象 ,必须在制样后立即测量。方法的检出限 (μg/g)Br、Cl、S分别为 0 .43、5 .8和 2 .2。
- 詹秀春陈永君郑妙子王健李迎春李冰张勤
- 关键词：地质样品X射线荧光光谱氯溴硫水系沉积物
- 钒钛磁铁矿样品主、次元素的快速分析方法研究被引量：4
- 2005年
- 采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X 荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析 应用研究。文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正 原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速 度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景,与封闭正比计数器X射线荧光分析仪 相比,检出限降低了1个数量级。
- 陈永君邓赛文董德凡郑妙子
- 关键词：钒钛磁铁矿
