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李耀鑫

作品数:2 被引量:1H指数:1
供职机构:中国原子能科学研究院更多>>
相关领域:核科学技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇核科学技术

主题

  • 1篇退火
  • 1篇扰动角关联
  • 1篇热退火
  • 1篇温度
  • 1篇温度控制
  • 1篇角关联
  • 1篇辐射防护
  • 1篇SI
  • 1篇

机构

  • 2篇中国原子能科...

作者

  • 2篇李耀鑫
  • 1篇李东宏
  • 1篇俞尔俊
  • 1篇朱升云

传媒

  • 1篇原子能科学技...
  • 1篇核科学与工程

年份

  • 1篇1991
  • 1篇1989
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
在Si中In的热退火现象的扰动角关联研究
1991年
文章采用时间微分扰动角关联方法细致地研究了核反应反冲注入到Si中的In的热退火现象。反冲注入后约70%的In处在高密度辐射损伤晶格无序区,随退火温度升高,晶格无序区逐渐缩小,经600℃退火后消失。但是实验发现,经798℃退火后,只有55%的In原子位于无扰动晶格替代位置,尚有45%的In原子仍处于扰动位置。文中对可能的扰动原因进行了讨论。
李东宏李耀鑫朱升云
关键词:扰动角关联
辐照样品的温度控制被引量:1
1989年
由在辐照孔道内实验装置的实测数据,得到了辐照罐的γ释热率。根据分析计算,得出了确定辐照中气隙宽度的计算式。采用了增强周向导热能力及用电加热调节温差的设计思想。所设计的辐照罐即使在要求三种不同的辐照温度的情况下,成功地满足了辐照温度及温差的要求。设计温度的相对误差小于10%。
李耀鑫俞尔俊
关键词:温度控制辐射防护
共1页<1>
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