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李松坤

作品数:8 被引量:2H指数:1
供职机构:合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金国家自然科学基金安徽高校省级自然科学研究基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术文化科学电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇文化科学

主题

  • 6篇自测试
  • 6篇内建自测试
  • 4篇折叠计数器
  • 4篇扫描链
  • 4篇计数器
  • 3篇BIST
  • 3篇测试数据
  • 2篇多扫描链
  • 2篇移位寄存器
  • 2篇折叠
  • 2篇重播
  • 2篇线性反馈移位...
  • 2篇相移
  • 2篇相移器
  • 2篇反馈移位寄存...
  • 2篇串行
  • 2篇串行输入
  • 1篇电路
  • 1篇数据压缩
  • 1篇自选择

机构

  • 8篇合肥工业大学
  • 1篇江苏省南通商...

作者

  • 8篇李松坤
  • 7篇梁华国
  • 6篇易茂祥
  • 4篇李扬
  • 4篇吴义成
  • 3篇黄正峰
  • 2篇蒋翠云
  • 2篇常郝
  • 2篇李鑫
  • 2篇刘杰
  • 2篇陈田
  • 2篇王伟

传媒

  • 2篇计算机研究与...
  • 1篇计算机辅助设...
  • 1篇第七届中国测...

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2012
  • 2篇2011
  • 3篇2010
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案被引量:1
2010年
提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.
吴义成梁华国李松坤黄正峰易茂祥
关键词:内建自测试折叠计数器测试数据压缩
一种并行输出的折叠计数器方案被引量:1
2010年
提出了一种并行输出的折叠计数器方案.折叠计数器作为一种测试模式生成器取得了很高的测试数据压缩率,但由于其每个时钟周期只产生一位测试数据,故只能应用于单扫描链结构,这样就会导致测试时间过长.建议方案通过改进折叠计数器结构使其实现并行输出,这一改进既能保持折叠计数器高测试数据压缩率的优势,又能最大限度地降低测试应用时间,同时对应的解压结构简单规则.
李松坤梁华国吴义成易茂祥
关键词:内建自测试折叠计数器
基于折叠计数器的多扫描链SoC内建自测试方法研究
随着集成电路制造工艺的不断发展,单个芯片上集成的晶体管数目越来越多,通过复用各种IP芯核,片上系统/(SoC, System-on-Chip/)的功能愈发强大。SoC设计缩短了电路设计周期,降低了设计风险,但同时SoC的...
李松坤
关键词:系统芯片内建自测试折叠计数器多扫描链
文献传递
基于并行折叠计数器的重播种测试方案
本发明公开了一种基于并行折叠计数器的重播种测试方案,其特征是通过线性反馈移位寄存器LFSR和折叠计数器编码对测试集进行双重压缩,在测试过程中通过相移器和并行折叠控制电路并行移入多扫描链结构的被测电路完成测试功能。本发明方...
梁华国吴义成李松坤蒋翠云黄正峰易茂祥陈田刘杰李扬
一种并行输出的折叠计数器方案
提出了一种并行输出的折叠计数器方案,这一方案是针对于折叠计数器结构做出的一种改进.折叠计数器作为一种测试模式生成器取得了很高的测试数据压缩率,但由于其每个时钟周期只产生一位测试数据,故只能应用于单扫描链结构,这样就会导致...
李松坤梁华国吴义成易茂祥
关键词:内建自测试折叠计数器
文献传递
基于折叠计算的多扫描链BIST方案
2013年
为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移入多扫描链.在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07%,平均测试应用时间为之前方案的13.35%.
梁华国李扬李鑫易茂祥王伟常郝李松坤
关键词:内建自测试多扫描链
基于折叠计算的并行BIST方案
超大规模集成电路半导体工艺尺寸的不断减小使测试的复杂度和测试成本不断提升.测试数据压缩率和测试应用时间是降低测试成本的关键因素.内建自测试作为一种可测性设计方法能有效地提高电路的可测性,并降低测试成本.一种新的基于折叠计...
梁华国李扬李鑫易茂祥王伟常郝李松坤
关键词:内建自测试
文献传递网络资源链接
基于并行折叠计数器的重播种测试方案
本发明公开了一种基于并行折叠计数器的重播种测试方案,其特征是通过线性反馈移位寄存器LFSR和折叠计数器编码对测试集进行双重压缩,在测试过程中通过相移器和并行折叠控制电路并行移入多扫描链结构的被测电路完成测试功能。本发明方...
梁华国吴义成李松坤蒋翠云黄正峰易茂祥陈田刘杰李扬
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