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朱永刚

作品数:7 被引量:7H指数:1
供职机构:西安电子科技大学更多>>
发文基金:国家部委预研基金模拟集成电路重点实验室基金模拟集成电路国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 7篇电子电信

主题

  • 4篇SIGE
  • 3篇SIGE_H...
  • 2篇异质结
  • 2篇异质结双极晶...
  • 2篇双极晶体管
  • 2篇晶体管
  • 2篇HBT
  • 2篇PSPICE
  • 1篇电流增益
  • 1篇调制掺杂
  • 1篇信道
  • 1篇选择性衰落
  • 1篇选择性衰落信...
  • 1篇应变SI
  • 1篇应变硅
  • 1篇增益
  • 1篇阵列
  • 1篇时码
  • 1篇势垒
  • 1篇势垒电容

机构

  • 7篇西安电子科技...

作者

  • 7篇朱永刚
  • 6篇戴显英
  • 5篇胡辉勇
  • 5篇王顺祥
  • 4篇崔晓英
  • 4篇张鹤鸣
  • 3篇王喜媛
  • 2篇马何平
  • 2篇李立
  • 2篇王青
  • 2篇王伟
  • 1篇俞智刚
  • 1篇李勇朝
  • 1篇宣荣喜
  • 1篇王勇
  • 1篇廖桂生
  • 1篇区健锋

传媒

  • 2篇Journa...
  • 2篇第十四届全国...
  • 1篇电子学报
  • 1篇电子器件

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2006
  • 5篇2005
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
SiGe HBT传输电流模型研究
本文考虑了基区扩展效应、准饱和效应、速度饱和效应、自热效应、厄利效应、大注入效应以及发射结能带的不连续对载流子输运产生的影响,在得出HBT正、反向工作电流解析模型的基础上,建立了SiGeHBT传输电流模型.该模型物理意义...
王顺祥张鹤鸣戴显英朱永刚马何平
关键词:SIGE异质结双极晶体管PSPICE
文献传递
无线自组网安全与检测技术研究-无线通信网络的选择性衰落信道下空时码检测技术研究
王勇廖桂生李勇朝胡辉勇朱永刚崔晓英
空时编码技术是把天线阵列的空间分集同信道编码技术结合起来,使得无线信道的信道容量显著扩大,空时码的提出为解决无线通信系统中的传输速率问题提供了一条新思路,已经成为通信研究的一个热点。由于译码简单,空时分组码(STBC)成...
关键词:
关键词:空时编码技术天线阵列
Growth of Strained Si_(1-x)Ge_x Layer by UV/UHV/CVD
2005年
Strained Si_ 1-xGe_x and Si materials are successfully grown on Si substrate by ultraviolet light chemical vapor deposition under ultrahigh vacuum at a low substrate temperature of 450℃ and 480℃,respectively.At such low temperature,autodoping effects from the substrate and interdiffusion effects at each interface could be suppressed efficiently.The strained Si_ 1-xGe_x and multilayer Si_ 1-xGe_x/Si structures are examined by X-ray diffraction,SMIS,etc.,and it is found that the materials have good crystallinity and the rising and falling edges are steep.The technique has a capability of growing high-quality Si_ 1-xGe_x/Si strained layers.
胡辉勇张鹤鸣戴显英李开成王伟朱永刚王顺祥崔晓英王喜媛
SiGe HBT发射极延迟时间模型
2005年
在对SiGeHBT(异质结双极晶体管)载流子输运的研究基础上,建立了包括基区扩展效应SiGeHBT发射极延迟时间τe模型.发射极延迟时间与发射结势垒电容和集电结势垒电容密切相关.在正偏情况下,通常采用的势垒区耗尽层近似不再适用,此时需要考虑可动载流子的影响.本文重点分析了电流密度及发射结面积等参数对SiGeHBT发射极延迟时间的影响.
胡辉勇张鹤鸣戴显英朱永刚王顺祥王伟崔晓英王青王喜媛
关键词:SIGEHBT势垒电容
基区Ge组分分布对SiGe pnp HBT的影响
2006年
采用SiGe异质结结构提高pnp晶体管的性能,重点研究了Ge组分在基区的三角形分布对晶体管电流增益β和特征频率fT的影响。三角形分布,又分为起点为零和不为零两种情况。同时为了消除集电结处SiGe异质结的价带势垒对空穴输运的影响,Ge组分向集电区延伸进一步提高了晶体管的性能。得到最大电流增益β可达150和特征频率fT可达15 GHz的pnp SiGe HBT,可以广泛地应用到通信、微波和射频领域。
李立戴显英朱永刚胡辉勇
关键词:SIGEPNPHBT
应变Si调制掺杂NMOSFET电子面密度模型被引量:7
2005年
应变Si(Strain Si)调制掺杂NMOSFET量子阱沟道中电子面密度直接影响器件的开关特性.本文通过求解泊松方程,建立了应变Si调制掺杂NMOSFET量子阱沟道静态电子面密度模型,并据此建立了器件阈值电压模型,利用MATLAB软件对该模型进行了数值分析.讨论了器件结构中δ-掺杂层杂质浓度和间隔层厚度与电子面密度和阈值电压的关系,分析了器件几何结构参数和材料物理参数对器件量子阱沟道静态电子面密度和阈值电压的影响.随着δ-掺杂层杂质浓度的减小和间隔层厚度的增加,量子阱沟道中电子面密度减小,阈值电压绝对值减小.
胡辉勇张鹤鸣戴显英王顺祥朱永刚区健锋俞智刚马何平王喜媛
关键词:应变硅调制掺杂阈值电压
可嵌入PSPICE软件的SiGe HBT 扩散电容模型
载流子在发射结和集电结的运动引起的电荷存储效应,被称为扩散电容.在PSPICE模拟软件中,模型还不是很精确,本文主要建立了可以嵌入PSPICE的SiGeHBT的扩散电容模型,使其可以更精确的模拟仿真SiGeHBT器件和电...
朱永刚戴显英李立宣荣喜王青崔晓英王顺祥
关键词:SIGE异质结双极晶体管存储电荷PSPICE
文献传递
共1页<1>
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