徐晓明
- 作品数：9 被引量：7H指数：2
- 供职机构：清华大学更多>>
- 相关领域：金属学及工艺理学文化科学核科学技术更多>>
- 多晶X射线衍射数据分析方法和软件的研发
- 本报告分两部分,一部分是多晶衍射数据库PDD-COD的建立及应用,另一部分是利用Crystallography Open Database(简称COD,该数据库在国际上公开免费使用)直接进行Rietveld全谱拟合方法和...
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- 高水平材料测试分析平台建设的4个要素
- 2021年
- 实验室作为校级科研条件平台的一个重要组成部分,为学校相关院系的科研、教学、人才培养和双一流建设提供高水平的技术支撑。该文围绕实验技术研发、测试数据质量保障、仪器设备运维、全时开放等4个要素,探索高水平材料测试分析平台的建设与实践。
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- 基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究和开发--将衍射强度提高至三倍
- 衍射强度是粉末X射线衍射仪的最重要的性能指标之一,提高衍射强度对X射线衍射分析具有重要的意义.本工作将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包...
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- X射线衍射多相谱中某一物相点阵参数的直接求解方法
- 2011年
- 介绍了一种新的求解点阵参数的方法——不涉及结构的谱峰拟合方法.该方法适用于单一物相或多个物相衍射谱中某一物相点阵参数的直接求解,可以避免外推函数的不同选择而造成的差异,且快速准确.根据此方法编写的应用程序已在实际工作中得到应用.程序中还包括了调整样品表面离轴偏差和零度偏差以提高拟合精确度的功能.
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- 关键词：X射线衍射
- 基于SDD探测器的X射线衍射仪用射线探测记录系统
- 本实用新型公开了一种基于SDD探测器的X射线衍射仪用射线探测记录系统，包括SDD探测器、单道脉冲分析器，所述SDD探测器用于接收X射线照射样品产生的衍射线，所述SDD探测器，所述单道脉冲分析器依次连接，再和X射线衍射仪数...
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- 文献传递
- 基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究被引量：1
- 2016年
- 研究了提高X射线衍射强度的方法,将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包括SDD探测器、单道脉冲分析器和计数电路等部分。测试结果表明,探测记录系统能量分辨率高,可以省去石墨单色器,与常规配备石墨单色器+闪烁/正比探测器的衍射仪相比,衍射强度可提高三到四倍。同时,此探测记录系统可排除样品中荧光元素的干扰,且可用于阵列探测器"阵列"效应失效的测试(如极图、In-Plane分析等)。新系统可提升薄膜材料和凝聚态微纳结构分析的水平。
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- 关键词：衍射强度能量分辨率
- X射线衍射仪毛细管样品架及中温加热装置开发与应用
- 2014年
- 根据测试分析工作的需求,自行设计和开发了用于X射线衍射仪的毛细管样品架以及开放式中温加热装置。通过对多个实际样品的测试分析,表明该样品架及加热装置使用方便,结果可信,效果较好,可以在实际工作中广泛应用。
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- 关键词：X射线衍射仪
- X射线衍射仪固有角度刻度误差对点阵参数计算精确度影响的研究被引量：3
- 2014年
- 本文研究粉末衍射仪客观存在的固有角度刻度误差导致的测量角度变化对点阵参数计算精确度的影响,它理论上代表着各台衍射仪(不同实验室)所得到的点阵参数的一致性的极限.具体方法为利用多个带有角度随机误差的多晶硅计算谱,模拟某种制造精度的多台衍射仪的测量结果,并使用三种方法进行点阵参数的拟合计算,从而进行分析.
- 徐晓明苗伟陶琨
- 关键词：X射线衍射仪
- 高水平X射线衍射仪开放共享服务平台的建设被引量：4
- 2011年
- X射线衍射实验室在过去10年的开放共享服务中,不断探索和积累经验,从多个方面着手,确保仪器设备和技术资源的全面开放共享,努力构建高水平开放共享服务平台,增加了仪器的使用效益,提高了为科研和教学工作服务的水平,加强了人才培养工作。
- 徐晓明苗伟陶琨
- 关键词：X射线衍射仪资源共享
