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倪晓亮
作品数:
14
被引量:4
H指数:1
供职机构:
中国空间技术研究院
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相关领域:
电子电信
金属学及工艺
自动化与计算机技术
化学工程
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合作作者
王旭
中国空间技术研究院
孟猛
中国空间技术研究院
段超
中国空间技术研究院
陈雁
中国空间技术研究院
龚欣
中国空间技术研究院
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王旭
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一种半导体芯片结构参数分析方法
本发明公开了一种半导体芯片结构参数分析方法,包括:确定半导体芯片所使用的安装材料,采用与所述安装材料相对应的获取方式,从器件中获取至少两个版图信息一致的半导体芯片;对获取到的至少两个半导体芯片中的第一半导体芯片进行横向去...
吴照玺
丁鸷敏
段超
王小青
倪晓亮
田阳
文献传递
一种轴向引线二极管芯片无损开封方法
本发明公开了一种轴向引线二极管芯片无损开封方法,通过二极管辅助固定夹具将带封装的二极管按照特定方向进行固定,并对带封装的二极管进行磨切,以采用物理方法去除带封装的二极管的特定部位;然后,通过特定的无损开封方法将二极管芯片...
吴照玺
吴亚宁
段超
倪晓亮
陈旭光
栗超
王旭
孟猛
一种圆形封装器件用内部气氛测试保护装置
本发明涉及一种圆形封装器件用内部气氛测试保护装置和方法,用于将圆形器件装入该装置中并固定,从侧面对其进行穿刺,对其进行内部气氛测试,所述装置包括载物底座、密封圈、固定栓、张紧器;载物底座的中部设有样品槽,用于容纳待测器件...
丁鸷敏
倪晓亮
吴凯莲
程晓冉
栗超
吴照玺
段超
孟猛
一种用于含软质金属结构的元器件截面磨抛清洗方法
本发明涉及一种用于含软质金属结构的元器件截面磨抛清洗方法,步骤包括:使用环氧树脂对待制样元器件进行灌封,待树脂固化后将样品切割接近至待观测面;使用SiC磨料湿磨砂纸进行第一步研磨;依次使用牌号为(2~3)N目和(4~6)...
曹瑞
倪晓亮
吴亚宁
王旭
孟猛
王智彬
一种宇航用圆形连接器弯式屏蔽尾罩
本发明公开了一种宇航用弯式屏蔽尾罩,屏蔽尾罩包括:螺套、尾罩外壳、线夹、螺钉和弹性垫圈,螺套的第一端为环形限位凸台,另一端内设置有内螺纹;尾罩外壳的一端外侧设置环形限位凹槽,螺套的限位凸台位于限位凹槽内,尾罩外壳的另一端...
李婷
曹瑞
叶宇
倪晓亮
王智彬
陈雁
陈旭光
王旭
孙明
吴凯莲
一种芯片钝化层去除方法
本发明涉及一种芯片钝化层去除方法,包括以下步骤:获得芯片钝化层成分及厚度;对芯片以外的其他器件区域进行保护;判断芯片最表面钝化层的成分;将处理后的芯片重新通过光学显微镜或能谱仪进行检查,查看芯片表面是否还有钝化层及其成分...
张伟
倪晓亮
王旭
孟猛
龚欣
陈雁
段超
张延伟
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法,包含如下步骤:步骤1,对叠层封装器件的钽屏蔽外壳进行检查,如果叠层封装器件不具有钽屏蔽外壳,进入步骤2;如果叠层封装器件具有钽屏蔽外壳,则对钽屏蔽外壳进行检查;步骤2,对封...
段超
王旭
成亮
陈雁
孟猛
龚欣
张伟
倪晓亮
张延伟
文献传递
一种芯片钝化层去除方法
本发明涉及一种芯片钝化层去除方法,包括以下步骤:获得芯片钝化层成分及厚度;对芯片以外的其他器件区域进行保护;判断芯片最表面钝化层的成分;将处理后的芯片重新通过光学显微镜或能谱仪进行检查,查看芯片表面是否还有钝化层及其成分...
张伟
倪晓亮
王旭
孟猛
龚欣
陈雁
段超
张延伟
文献传递
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法
一种用于宇航用叠层封装器件的破坏性物理分析方法,包含如下步骤:步骤1,对叠层封装器件的钽屏蔽外壳进行检查,如果叠层封装器件不具有钽屏蔽外壳,进入步骤2;如果叠层封装器件具有钽屏蔽外壳,则对钽屏蔽外壳进行检查;步骤2,对封...
段超
王旭
成亮
陈雁
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一种轴向引线二极管芯片无损开封方法
本发明公开了一种轴向引线二极管芯片无损开封方法,通过二极管辅助固定夹具将带封装的二极管按照特定方向进行固定,并对带封装的二极管进行磨切,以采用物理方法去除带封装的二极管的特定部位;然后,通过特定的无损开封方法将二极管芯片...
吴照玺
吴亚宁
段超
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