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文献类型

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领域

  • 6篇电子电信
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主题

  • 6篇电路
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  • 1篇智能卡
  • 1篇设计人员
  • 1篇设计实现

机构

  • 10篇清华大学

作者

  • 10篇高力立
  • 7篇孙义和
  • 3篇陈弘毅
  • 2篇单羽
  • 2篇胡苑
  • 2篇羊性滋
  • 2篇徐磊
  • 2篇高志强
  • 2篇陈玉洁
  • 1篇管杰
  • 1篇刘放
  • 1篇滕人杰
  • 1篇王志华
  • 1篇吴行军
  • 1篇李东才
  • 1篇林云生
  • 1篇邓中翰
  • 1篇张辉

传媒

  • 2篇第二届中国测...
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  • 1篇实验技术与管...

年份

  • 1篇2006
  • 3篇2004
  • 2篇2002
  • 1篇2001
  • 3篇2000
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
高清晰度数字电视MPEG-2芯片测试方法设计
随着数字信息技术和超大规模电路设计制造技术的迅速发展,集诸多功能于一身的高性能MPEG-2编解码芯片不断涌现.但是此类芯片的测试技术仍处在研究和发展之中.本论文从介绍高清晰度数字电视MPEG-2芯片测试基础开始,在测试数...
高力立孙义和刘放
关键词:高清晰度电视MPEG-2标准集成电路测试数据格式转换
文献传递
利用互联网实现测试仪的远程控制与远程交流
本课题是教育部IC设计网上合作项目的一部分,目的是充分利用网络资源,把IMSXL-100测试与验证系统共享到因特网上,并实现远程可视化测试.因此本文主要涉及三个部分:远程控制;远程交流、网上求助.
高力立孙义和李东才
关键词:互联网测试仪远程控制
文献传递
八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究被引量:1
2001年
本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法,并对其测试矢量做了介绍。
高力立单羽
关键词:测试矢量智能卡
片上系统的测试数据压缩编码解码方法及专用解码单元
片上系统的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元,属于集成电路测试技术领域。为了解决现有技术中测试向量压缩效率较低,测试时间较长,不能够适应码流非等间距情况的问题,本发明公开了片上系统的测试数据压缩的编码方法,通过存储...
孙义和徐磊陈弘毅高力立
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片上系统的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元
片上系统的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元,属于集成电路测试技术领域。为了解决现有技术中测试向量压缩效率较低,测试时间较长,不能够适应码流非等间距情况的问题,本发明公开了片上系统的测试数据压缩的编码方法,通过存储...
孙义和徐磊陈弘毅高力立
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与68HC05兼容的8位嵌入式微处理器的设计实现
2000年
文章介绍了一种与MOTOROLA公司的68HC05系列兼容的微处理器的设计,对其结构进行了划分,并对每一部分具体性能和结构作简单介绍,最后叙述了具体的物理实现以及芯片的物理性能。
单羽羊性滋高力立
关键词:嵌入式微处理器
清华中星集成电路设计EDA平台建设
孙义和高志强陈玉洁高力立胡苑管杰
“清华中星集成电路设计研发中心”建成了一个以E5500高档服务器为中心的、先进的集成电路设计EDA平台,将高校科研优势和企业的强有力的市场功能有机结合,为加速集成电路的开发提供了基础性条件.a)利用研发中心的EDA平台,...
关键词:
关键词:EDA集成电路设计集成电路测试
清华中星集成电路设计研发中心
孙义和高志强陈弘毅王志华陈玉洁高力立张辉邓中翰滕人杰胡苑林云生吴行军
“清华中星集成电路设计研发中心”建成了一个以E5500高档服务器为中心的、先进的集成电路设计EDA平台,将高校科研优势和企业的强有力的市场功能有机结合,为加速集成电路的开发提供了基础性条件,“清华中星集成电路设计研发中心...
关键词:
关键词:集成电路设计集成电路测试设计人员
超大规模集成电路SCAN设计规则与流程探讨
本文主要探讨了超大规模集成电路的SCAN设计规则及流程.
高力立孙义和
关键词:测试矢量超大规模集成电路
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THRC12/13只读式非接触IC卡芯片测试方法研究及实现
本文在对只读式非接解IC卡功能分析的基础上研究了只读式非接触IC卡芯片的测试方法,并介绍了我们自行研制的只读式非接解IC卡芯片测试系统的硬件接口和自动化测试软件.硬件部件着重论述了原理和结构,软件部分介绍了模块构成、功能...
高力立羊性滋
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共1页<1>
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