韩锡贵
- 作品数：6 被引量：21H指数：2
- 供职机构：山东省科学院更多>>
- 发文基金：山东省自然科学基金更多>>
- 相关领域：金属学及工艺理学机械工程电子电信更多>>
- X射线衍射仪系统误差校正曲线的研究被引量：1
- 1997年
- 提出了用多个标准样品的X射线衍射角数据共同拟合一条系统误差曲线的方法。并用此方法求得CaCO_3粉末晶体的点阵参数,同理论标准点阵参数值作了相对误差分析,结果表明:在相同测角准确度下,与单标样法相比,用多标法校正后的一组衍射角数据所求得的点阵参数的相对误差大大降低。
- 黄佶韩锡贵
- 关键词：X射线
- 大型分析仪器改造升级的探讨
- 2001年
- 讨论了山东省分析测试中心在分析仪器改造方面取得的经验和存在的问题。
- 吴长民王晓东韩锡贵张敦荣程传格
- 关键词：分析仪器
- X射线连续谱的衍射峰
- 1994年
- 本文借助于ＤｕＭｏｎｄ图，阐明了带单色器Ｘ射线衍射仪连续谱衍射峰产生的机理，并讨论了如何判断及消除连续谱的衍射峰。
- 韩锡贵田亮光
- 关键词：X射线连续谱衍射
- Al—Li—x合金的微观结构与性能被引量：2
- 1993年
- 研究了Al—Mg—Li合金添加Ag元素后,其对合金性能的影响.结果证明:Ag影响合金的时效过程,不但具有明显的强化效果,而且使合金保持较高的延伸率.同时,探讨了Ag在合金沉淀强化中的作用与晶界特性机理。
- 张敦荣孙曙光乔瑞洁代红恽韩锡贵刘玉亭
- 关键词：铝锂合金银微观结构
- 柔性衬底ITO膜的性质与制备参数关系的研究被引量：18
- 2001年
- 用偏压磁控溅射法在水冷PPA(PolypropyleneAdipate)聚脂胶片上制备了性能优良的ITO(IndiumTinOxide)透明导电膜 ,对薄膜的光电性质进行了研究。制备样品的相对透过率为 80 %左右、最小电阻率为 6 .3× 10 -4 Ωcm ,与衬底附着良好。当衬底负偏压为 40V时 ,晶粒平均尺寸最大为 5 5nm ,相应地自由载流子霍耳迁移率有最大值为 89 3cm2 /Vs,薄膜的电阻率有最小值。X射线衍射表明薄膜为多晶纤锌矿结构 ,垂直于衬底的C轴具有 [2 2 2 ]方向的择优取向 ,随衬底负偏压的增大 ,沿 [4 0 0 ]方向生长的晶相减少。最佳衬底负偏压取值范围为 2 0～ 40V。XPS分析表明随衬底负偏压的增大 ,薄膜中的氧空位浓度最大 。
- 杨志伟韩圣浩杨田林叶丽娜马洪磊韩锡贵
- 关键词：光电性质溅射柔性衬底ITO膜
- 一种外标定量相分析方法
- 1991年
- 本文提出了一个定量相分析方法,根据原子的质量吸收系数,计算出试样中各相的质量吸收系数.测量试样中N—1相的衍射线强度和相应的纯物质的衍射线强度,据此建立并求解联立方程,可以得到试样中各物相的重量比.对五个石英和刚玉的混合样品中的刚玉进行测量的结果相对误差在6%以下。
- 韩锡贵
- 关键词：分析方法X射线衍射仪
