赵宏风
- 作品数：7 被引量：80H指数：6
- 供职机构：东北大学更多>>
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- 熔片X射线荧光光谱法测定矿物中钨和钼被引量：31
- 2007年
- 采用Li_2B_4O_7为熔剂,LiBr为脱膜剂,同时加入大量氧化剂LiNO_3防止钨和钼挥发损失及保护铂金合金坩埚不受腐蚀,制备了X射线荧光熔融样片。通过各种基体校正方式及校准曲线分段处理,建立了X射线荧光同时测定矿物中从微量到主量较大含量范围三氧化钨和钼的方法。该法的测定结果与化学法和ICP法相符。两个样品分别10次制样测量,相对标准偏差(RSD):WO_3从0.19%到2.84%,Mo从0.15%到3.22%。
- 童晓民赵宏风张伟民
- 关键词：X射线荧光三氧化钨钼
- X射线荧光分析钒钛铁矿中主次量元素被引量：11
- 2004年
- 四硼酸锂为熔剂 ,硝酸锂为氧化剂防止硫元素挥发损失 ,溴化锂作脱模剂 ,玻璃熔片法制备样品。干扰曲线法结合理论α系数法对谱线重叠干扰和基体效应进行校正 ,建立了 XRF测定钒钛铁矿中 Mg,Al,Si,P,S,Ca,Ti,V,Mn,TFe等主次量元素的分析方法。该方法经标准样品验证 ,与推荐值符合较好。 10次制样测量各组分 RSD在 0 .2 7%— 5 .2 4
- 童晓民赵宏风张焱
- 关键词：X射线荧光熔融法
- X-射线荧光光谱法测定炉渣中13种组分被引量：18
- 2005年
- 采用Li2B4O7和LiNO3为熔剂,LiBr作脱膜剂,熔融法制备样品;运用干扰曲线法通过迭次校正Ba,Ti,V,Cr,Mn各元素谱线重叠干扰,理论α系数法校正基体效应,X-射线荧光光谱法(XRF)分析了复杂体系炉渣中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,P2O5,K2O,CaO,TiO2,V2O5,Cr2O3,MnO,TFe,BaO 13种组分.该方法与化学法测定结果符合较好,10次制样测量各组分,相对标准偏差在0.15%～3.79%范围内.
- 童晓民赵宏风黄春燕赵一波
- 关键词：X-射线荧光炉渣
- 熔融制样-X射线荧光光谱法分析铝合金被引量：7
- 2011年
- 提出了用X射线荧光光谱法测定铝合金中镁、硅、钛、锰、铁、镍、铜、锌、铅等9种元素。样品0.2000g置于聚四氟乙烯杯中用200g·L^(-1)氢氧化钠溶液5mL溶解后,加硝酸10mL酸化,将溶液移入已盛有4.000g熔剂(四硼酸锂、偏硼酸锂与氟化锂以4.5比1比0.4的质量比混合)的铂金坩埚中,低温蒸干,并加热熔融制成厚度为2.5mm的玻璃状熔片,供X射线荧光光谱法分析用。该方法可适用于不同牌号、不同铸造或锻造热处理状态的铝合金样品分析。按该方法分析了4个标准样品,其测定结果与标准值相吻合。用一个铝合金标准物质(牌号ZLD 108)制备10个样片并测量,各元素相对标准偏差在0.62%～2.7%之间。
- 童晓民张伟民赵宏风
- 关键词：X射线荧光光谱铝合金熔融
- ICP-AES测定铜合金中的微(痕)量磷被引量：2
- 2011年
- 采取强酸性阳离子交换树脂分离铜、磷,确定了交换分离的最佳条件,用ICP-AES测定,根据谱线强度大,信背比高的原则确定磷的最佳分析波长,当CCu/CP≤20时,磷的测定误差≤5.0%,满足了分析的要求,实验的相对标准偏差为2.17%—5.00%,相对误差为-9.1%—4.5%,表明该分析方法的精密度和准确度均较好。
- 赵宏风王晶迟明玉
- 关键词：离子交换法电感耦合等离子体-原子发射光谱法光谱干扰铜合金磷
- 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定纯银中痕量碲被引量：9
- 2007年
- 建立了电感耦舍等离子体原子发射光谱法测定纯银中痕量碲的新方法。采用硝酸溶解样品，以叔-十二硫醇的甲苯溶液来液液萃取分离基体银，萃取率达99．7％以上，水相用于痕量碲的测定。通过正交试验，确定了仪器的最佳工作参数。讨论了不同酸度、萃取剂浓度、水相中银的浓度等对萃取率的影响，确定了苹取的最佳条件。该方法的检出限达到1．0／μg／L,工作曲线的线性范围为0～20mg／L，线性相关系数r=0．9998，测定1．3mg／L碲标准溶液的相对标准偏差为0.84％（n=11）。用于实际样品分析。加标回收率为94．0％～98．2％。
- 刘珍徐淑坤迟明玉赵宏风王乃芝
- 关键词：电感耦合等离子体原子发射光谱法碲液液萃取正交试验设计
- X射线荧光光谱法测定矿物及试剂中氧化锆和氧化铪被引量：6
- 2009年
- 采用四硼酸锂和硝酸锂作为熔剂熔融制备样品,同时加入Nb和Ta两种元素,分别作为Zr和Hf的内标,通过讨论各种谱线重叠干扰校正效果,分析比较各种内标校正方式,选择了二次干扰曲线法并依据一定顺序校正谱线重叠干扰和加内标元素校正基体效应,建立了测定氧化锆试剂及其矿物中含量范围较宽的氧化锆和氧化铪的X射线荧光光谱分析方法。对3个ZrO2含量差别较大的样品分别制样测定10次,相对标准偏差(RSD)为:ZrO2为0.098%,0.14%,0.78%;HfO2为0.71%,0.64%,3.52%。本方法ZrO2检出限为0.005 1%,HfO2为0.008 4%。通过模拟样品分析,本法测量值与理论加入值相一致;用于实际样品分析,测量值与化学值相吻合。
- 童晓民赵宏风张伟民
- 关键词：X射线荧光光谱内标氧化锆氧化铪
