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李开成

作品数:7 被引量:5H指数:1
供职机构:信息产业部更多>>
发文基金:国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 4篇分子束
  • 4篇分子束外延
  • 2篇锗硅
  • 2篇锗硅材料
  • 2篇全离子注入
  • 2篇自对准
  • 2篇离子注入
  • 2篇硅材料
  • 2篇发射极
  • 2篇超高速
  • 2篇POLY-S...
  • 1篇电路
  • 1篇衍射
  • 1篇异质结
  • 1篇异质结双极晶...
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇双晶衍射
  • 1篇退火
  • 1篇热退火
  • 1篇热稳定

机构

  • 6篇信息产业部
  • 1篇电子科技大学

作者

  • 7篇李开成
  • 5篇张静
  • 4篇刘道广
  • 3篇易强
  • 2篇凡则锐
  • 2篇王洪平
  • 1篇谭开州
  • 1篇李竞春
  • 1篇杨谟华
  • 1篇徐婉静
  • 1篇何林
  • 1篇刘嵘侃
  • 1篇杨沛峰

传媒

  • 3篇第十二届全国...
  • 1篇微电子学
  • 1篇第十一届全国...
  • 1篇中国电子学会...
  • 1篇第十一届全国...

年份

  • 2篇2002
  • 3篇2001
  • 2篇1999
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
Si_(1-x)Ge_x/Si应变材料的生长及热稳定性研究被引量:5
2002年
利用分子束外延 ( MBE)技术生长了 Ge组份为 0 .1~ 0 .46的 Si1-x Gex 外延层。X射线衍射测试表明 ,Si Ge/Si异质结材料具有良好的结晶质量和陡峭界面 ,其它参数也可准确控制。通过 X射线双晶衍射摇摆曲线方法 ,研究了经 70 0°C、80 0°C和 90 0°C退火后应变 Si Ge/Si异质结材料的热稳定性。结果表明 ,随着退火温度的提高 ,应变层垂直应变逐渐减小 ,并发生了应变驰豫 ,导致晶体质量退化 ;且 Ge组分越小 ,Si1-x Gex 应变结构的热稳定性越好 ;
李竞春杨沛峰杨谟华何林李开成谭开州张静
关键词:热稳定性分子束外延X射线双晶衍射锗硅材料
自对准、全离子注入、Poly-Si发射极工艺研究及其在超高速A\D、D\A中的应用
该文详细阐述一种自对准、全离子注入、Poly-Si发射极工艺的研究。该工艺已应用于超高速A/D、D/A转换器的研制中。利用该研究成果成功地开发了转换速率125-25MH〈,z〉建立时间为10ns的超高速8位视频D/A转换...
刘道广李开成王洪平
关键词:自对准全离子注入
文献传递网络资源链接
有效抑制掺杂表面偏析效应的LT-MBE技术
在分子束外延中,所有的掺杂剂都存在表面偏析效应.本文提出的低温分子束外延技术,有效地抑制了掺杂剂的表面偏析效应,掺杂浓度可达到∽1020/cm3.生长掺杂后用原位RHEED观测,晶体质量良好.这种技术应用于SiGeHBT...
张静徐婉静李开成刘道广刘嵘侃
关键词:分子束外延快速热退火集成电路
文献传递
SiGe HBT缓变基区的MBE生长
利用分子束外延(MBE)方法,生长SiGe HBT的缓变基区.Ge的组分从集电极一侧线性缓变地向发射极一侧降低,由生长速率精确控制.
张静李开成易强凡则锐
关键词:分子束外延
文献传递
自对准、全离子注入、Poly-Si发射极工艺研究及其在超高速A\D、D\A中的应用
详细阐述一种自对准、全离子注入、Poly-Si发射极工艺的研究。该工艺已应用于超高速A/D、D/A转换器的研制中。利用该研究成果成功地开发了转换速率125-25MH〈,z〉建立时间为10ns的超高速8位视频D/A转换器S...
刘道广李开成王洪平
关键词:自对准全离子注入
SiGe/Si材料特性表征技术
本文对表征SiGe/Si异质结材料特性的测量技术X-ray双晶衍射、反射高能电子衍射、Hall测量、二次离子质谱测量等进行了较为全面的介绍,为更好地了解、掌握和评价SiGe/Si材料特性提供一定帮助.
张静李开成易强凡则锐
关键词:SIGE材料材料特性
文献传递
锗硅/硅异质结双极晶体管的研制
本文介绍了基于分子束外延(MBE)法生长的锗硅/硅(SiGe/Si)结构的异质结双极晶体管(HBT)的研制.在该项研究工作中,SiGe/Si薄膜是用法国Riber公司SIVA32型分子束外延设备制备的.在SiGe异质结双...
刘道广李开成张静易强
关键词:锗硅材料分子束外延异质结双极晶体管工艺技术
文献传递
共1页<1>
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