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张帮

作品数:6 被引量:20H指数:3
供职机构:成都理工大学核技术与自动化工程学院更多>>
发文基金:中国地质调查局地质调查项目国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:机械工程核科学技术天文地球矿业工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇天文地球
  • 2篇机械工程
  • 2篇核科学技术
  • 1篇矿业工程
  • 1篇理学

主题

  • 3篇荧光
  • 3篇微束
  • 2篇分析仪
  • 2篇XRF
  • 1篇荧光分析
  • 1篇荧光强度
  • 1篇手持式
  • 1篇探针
  • 1篇微小颗粒
  • 1篇无损检测
  • 1篇矿石
  • 1篇矿物
  • 1篇矿物分析
  • 1篇基本参数法
  • 1篇光电
  • 1篇光电二极管
  • 1篇硅光电二极管
  • 1篇二极管
  • 1篇PIN光电二...
  • 1篇X射线荧光

机构

  • 6篇成都理工大学

作者

  • 6篇张帮
  • 5篇葛良全
  • 2篇贾牧霖
  • 2篇赖万昌
  • 2篇杨健
  • 2篇曾国强
  • 2篇宋卫杰
  • 1篇程锋
  • 1篇戴振麟
  • 1篇孙传敏
  • 1篇肖明
  • 1篇李金凤
  • 1篇殷经鹏
  • 1篇程峰

传媒

  • 4篇核电子学与探...

年份

  • 1篇2010
  • 3篇2009
  • 2篇2008
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
微束微区X射线探针分析仪的基本参数法定量分析研究
随着科学研究和工业的发展,人们逐渐要求在表面分析领域能够解决微米级的表面结构和元素的含量分布。X 射线探针分析技术作为一种无损检测技术,是解决微米级范围内元素定性、定量分析问题的理想手段。基本参数法作为XRF技术定量分析...
张帮
关键词:基本参数法无损检测荧光强度
文献传递
微束微区X荧光矿物分析探针的研制
<正>在地质学研究与矿产勘查工作中,对显晶或隐晶矿物的成分分析一般采用分析型电子扫描探针和分析型透射电镜来实现,该类显微成分分析技术对岩矿石样品的制样有严格的要求,需要将岩矿石磨成薄片或镀导电膜。从上世纪90年代以来,随...
葛良全孙传敏赖万昌杨健曾国强张帮宋卫杰
文献传递
手持式EDXRF荧光仪在RoHS认证的应用研究被引量:4
2010年
利用自行研制的便携式EDXRF荧光仪对自配聚乙烯、Cu、Sn、Si O2四种基体标准样品的测量与数据处理,建立了基于RoHS标准的Cr、Pb、Hg、Br等元素的工作曲线,得出判定样品合格的参考标准。实验证明了XRF技术用于RoHS检测中进行快速筛选待检样品是一种有效手段。
程锋葛良全赖万昌李金凤张帮
关键词:XRFROHS
一款基于硅光电二极管的数字γ辐射仪设计被引量:1
2008年
CsI(Tl)闪烁晶体的发光光谱能与光电二极管的吸收光谱较好的匹配。采用CsI(Tl)晶体+光电二极管探测器的数字辐射仪,与传统辐射仪相比,在体积、功耗和稳定性方面都有一定优势。通过数字电位器的使用实现了甄别阈值调节的数字化,使得仪器甄别阈调节更加精确。
贾牧霖葛良全曾国强肖明张帮
关键词:CSI(TL)晶体
微束微区X荧光探针分析仪在矿石微粒分析中的应用被引量:9
2009年
描述了一种微束微区X荧光探针分析仪,它采用会聚X光透镜来聚焦入射X射线,可对样品内微小面积的元素及其含量进行分析。以铁矿石内颗粒的测量为例,表明了微束微区X荧光探针分析仪是区分矿石中微小颗粒的有力工具,在细微材料成分分析和无损检测中具有广阔的前景。
宋卫杰葛良全杨健张帮殷经鹏
关键词:微小颗粒
不规则样品中元素含量XRF测定的校正被引量:3
2008年
介绍了当样品的被测底面积不能视为无限大时目标元素含量的测量方法。从理论上说明了特散比R是与样品的被测量底面积无关的参数,通过实验证明特散比法是解决不规则样品中元素含量测量问题的很有效方法。
张帮葛良全程峰戴振麟贾牧霖
关键词:X射线荧光分析
共1页<1>
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