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左雷

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：华北光电技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇质谱
  • 2篇探测器
  • 2篇碲镉汞
  • 2篇焦平面
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  • 2篇SIMS
  • 1篇质谱分析
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  • 1篇红外探测
  • 1篇二次离子质谱

机构

  • 2篇华北光电技术...

作者

  • 2篇李震
  • 2篇朱西安
  • 2篇左雷

传媒

  • 1篇激光与红外
  • 1篇第二届全国先...

年份

  • 2篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
SIMS在碲镉汞红外焦平面探测器工艺中的应用
本文介绍了二次离子质谱仪的结构及其基本工作原理,并通过对典型应用的分析,介绍了二次离子质谱分析技术在高灵敏度碲镉汞红外焦平面探测器材料和器件制备工艺中的作用,特别是在结探监测和微量杂质监控方面所发挥的重要作用。
朱西安左雷李震
关键词：红外探测质谱分析
文献传递
SIMS在碲镉汞红外焦平面探测器工艺中的应用被引量：3
2006年
文章介绍了二次离子质谱仪的结构及其基本工作原理,并通过对典型应用的分析,介绍了二次离子质谱分析技术在高灵敏度碲镉汞红外焦平面探测器材料和器件制备工艺中的作用,特别是在结探监测和微量杂质监控方面所发挥的重要作用。
朱西安左雷李震
关键词：二次离子质谱碲镉汞红外焦平面阵列结深
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